Direct extraction of all four transistor noise parameters from 50 noise figure measurements


Català Castellano English

	Pàgina d'inici
	Estadístiques d'ús

Llistar
	Comunitats
	Títol
	Autor
	Data
	Matèria
	Àrees temàtiques de la UPC

Serveis
	Alertes
	El meu E-prints UPC usuaris autoritzats
	Editar perfil
	Entrada usuaris no UPC



	Sobre DSpace

	Bibliotècnica: la biblioteca digital de la UPC

E-prints UPC >
Enginyeria electrònica i telecomunicacions >
RF&MW - Grup de Recerca de Sistemes, Dispositius i Materials de RF i Microones >
Articles de revista >

Empreu aquest identificador per citar o enllaçar aquest ítem: http://hdl.handle.net/2117/741

Arxiu	Descripció	Mida	Format
Direct extraction.pdf		441 kB	Adobe PDF	Veure/Obrir

Citació:	Lazaro, A.; Pradell, L.; Beltran, A.; O'Callaghan, J.M. Direct extraction of all four transistor noise parameters from 50 Ω noise figure measurements. Electronics Letters, 1998, vol.34, núm.3, p.289-291. ISSN:0013-5194
Títol:	Direct extraction of all four transistor noise parameters from 50 noise figure measurements
Autor:	Lázaro Guillén, Antoni ; Pradell i Cara, Lluís ; Beltrán, A.; O'Callaghan Castellà, Juan Manuel
Editorial:	IEE
Data:	5-feb-1998
Tipus de document:	Article
Resum:	A new method for measuring the four noise parameters (NPs) of a transistor is presented. It is based on the determination of its intrinsic noise matrix elements (C11INT, C22INT, Re(C12INT), Im(C12INT)) by fitting the measured device noise figure for a matched source reflection coefficient (F50) at a number of frequency points. In contrast to previous works, no restrictive assumptions are made on the intrinsic noise sources.
ISSN:	0013-5194
URI:	http://hdl.handle.net/2117/741
Apareix a les col·leccions:	Departament de Teoria del Senyal i Comunicacions. Articles de revista RF&MW - Grup de Recerca de Sistemes, Dispositius i Materials de RF i Microones. Articles de revista
Comparteix:

Stats Mostra les estadístiques d'aquest ítem

Queda prohibida la reproducció, transformació, distribució i comunicació pública d'aquesta obra. Es permet, en tot cas, la reproducció per a ús privat sempre i quan la còpia que se'n faci no sigui objecte d'utilització col·lectiva ni lucrativa (art. 31.2 del Reial Decret Legislatiu 1/1996, de 12 d'abril, pel qual s'aprova el Text Refós de la Llei de Propietat Intel·lectual, http://bibliotecnica.upc.es/sepi/legislacio.asp).

Per a qualsevol ús que es vulgui fer diferent al permès, dirigiu-vos a: sepi@upc.edu