DSpace DSpace UPC
 Català   Castellano   English  

E-prints UPC >
Altres >
Enviament des de DRAC >

Empreu aquest identificador per citar o enllaçar aquest ítem: http://hdl.handle.net/2117/7375

Arxiu Descripció MidaFormat
Non-invasive RF built-in testing.pdf371,74 kBAdobe PDFThumbnail
Veure/Obrir

Citació: Aldrete, H. [et al.]. Non-invasive RF built-in testing using on-chip temperature sensors. A: 2009 International Test Conference (ITC). "2009 International Test Conference". Austin, Texas: IEEE Computer Society Publications, 2009, p. 1-4.
Títol: Non-invasive RF built-in testing using on-chip temperature sensors
Autor: Aldrete Vidrio, Héctor Veure Producció científica UPC; Onabajo, M.; Altet Sanahujes, Josep Veure Producció científica UPC; Mateo Peña, Diego Veure Producció científica UPC; Silva-Martínez, José
Editorial: IEEE Computer Society Publications
Data: nov-2009
Tipus de document: Other
Resum: This poster shows how to efficiently observe high-frequency figures of merit in RF circuits by measuring DC temperature with CMOS-compatible built-in sensors.
ISBN: 978-1-4244-4867-8
URI: http://hdl.handle.net/2117/7375
Versió de l'editor: http://www.itctestweek.org/
Apareix a les col·leccions:HIPICS - High Performance Integrated Circuits and Systems. Altres
Departament d'Enginyeria Electrònica. Altres
Altres. Enviament des de DRAC
Comparteix:


Stats Mostra les estadístiques d'aquest ítem

SFX Query

Tots els drets reservats. Aquesta obra està protegida pels drets de propietat intel·lectual i industrial corresponents. Sense perjudici de les exempcions legals existents, queda prohibida la seva reproducció, distribució, comunicació pública o transformació sense l'autorització del titular dels drets.

Per a qualsevol ús que se'n vulgui fer no previst a la llei, dirigiu-vos a: sepi.bupc@upc.edu

 

Valid XHTML 1.0! Programari DSpace Copyright © 2002-2004 MIT and Hewlett-Packard Comentaris
Universitat Politècnica de Catalunya. Servei de Biblioteques, Publicacions i Arxius