DSpace DSpace UPC
 Català   Castellano   English  

E-prints UPC >
Enginyeria electrònica i telecomunicacions >
RF&MW - Grup de Recerca de Sistemes, Dispositius i Materials de RF i Microones >
Articles de revista >

Empreu aquest identificador per citar o enllaçar aquest ítem: http://hdl.handle.net/2117/718

Arxiu Descripció MidaFormat
extraction of noise parameters.pdf313,68 kBAdobe PDFThumbnail
Veure/Obrir

Citació: Lazaro, A.; Pradell, L. Extraction of noise parameters of transistor using a spectrum analyser and 50 Θ noise figure measurements only. Electronics Letters, 1998, 34 (24): 2353-2354. ISSN:0013-5194
Títol: Extraction of noise parameters of transistor using a spectrum analyser and 50^ noise figure measurements only.
Autor: Lázaro Guillén, Antoni Veure Producció científica UPC; Pradell i Cara, Lluís Veure Producció científica UPC
Editorial: IEE
Data: 26-nov-1998
Tipus de document: Article
Resum: A method for measuring the four noise parameters of a transistor in the microwave range using a configuration based on a conventional spectrum analyser is presented. In contrast to previous methods, it requires wideband 50 Θ noise-figure measurements only. The method features an accuracy similar to that of noise figure meters at a much higher measurement speed and lower cost.
ISSN: 0013-5194
URI: http://hdl.handle.net/2117/718
Apareix a les col·leccions:RF&MW - Grup de Recerca de Sistemes, Dispositius i Materials de RF i Microones. Articles de revista
Departament de Teoria del Senyal i Comunicacions. Articles de revista
Comparteix:


Stats Mostra les estadístiques d'aquest ítem

SFX Query

Tots els drets reservats. Aquesta obra està protegida pels drets de propietat intel·lectual i industrial corresponents. Sense perjudici de les exempcions legals existents, queda prohibida la seva reproducció, distribució, comunicació pública o transformació sense l'autorització del titular dels drets.

Per a qualsevol ús que se'n vulgui fer no previst a la llei, dirigiu-vos a: sepi.bupc@upc.edu

 

Valid XHTML 1.0! Programari DSpace Copyright © 2002-2004 MIT and Hewlett-Packard Comentaris
Universitat Politècnica de Catalunya. Servei de Biblioteques, Publicacions i Arxius