DSpace DSpace UPC
 Català   Castellano   English  

E-prints UPC >
Altres >
Enviament des de DRAC >

Empreu aquest identificador per citar o enllaçar aquest ítem: http://hdl.handle.net/2117/6826

Arxiu Descripció MidaFormat
Modelling.pdf180,48 kBAdobe PDFThumbnail
Veure/Obrir

Citació: Berbel, N.; Fernandez, R.; Gil, I. Modelling and experimental verification of the impact of negative bias temperature instability on CMOS inverter. A: European Symposium on Reliability of Electron Devices, Failure Physics and Analysis. "20th European Symposium on Reliability of Electron Devices, Failure physics and analysis". Arcachon: 2009, p. 1048-1051.
Títol: Modelling and experimental verification of the impact of negative bias temperature instability on CMOS inverter
Autor: Berbel Artal, Néstor Veure Producció científica UPC; Fernández García, Raúl Veure Producció científica UPC; Gil Galí, Ignacio Veure Producció científica UPC
Data: oct-2009
Tipus de document: Conference lecture
Resum: The effects of negative bias temperature instability (NBTI) on the performance of a CMOS inverter have been investigated by means of both simulation and experimental methods. The simulation of NBTI effects on CMOS inverter has been done by shifting the pFET Vtho BSIM parameter. The results show that NBTI shifts the inverter transfer curve, reduces the low noise margin and current consumption but increases the high noise margin. A good agreement between simulation and experimental results has been obtained. Therefore, it can be assumed that the effect of NBTI on CMOS circuits can be mainly predicted by shifting the Vtho pFET parameter.
Descripció: Published in Microelectronics Reliability, Volume 49, Issues 9-11, September-November 2009, Pages 1048-1051
URI: http://hdl.handle.net/2117/6826
Apareix a les col·leccions:TIEG - Grup d'Electrònica Industrial Terrassa. Ponències/Comunicacions de congressos
SEPIC - Sistemes Electrònics de Potència i de Control. Ponències/Comunicacions de congressos
Departament d'Enginyeria Electrònica. Ponències/Comunicacions de congressos
Altres. Enviament des de DRAC
Comparteix:


Stats Mostra les estadístiques d'aquest ítem

SFX Query

Tots els drets reservats. Aquesta obra està protegida pels drets de propietat intel·lectual i industrial corresponents. Sense perjudici de les exempcions legals existents, queda prohibida la seva reproducció, distribució, comunicació pública o transformació sense l'autorització del titular dels drets.

Per a qualsevol ús que se'n vulgui fer no previst a la llei, dirigiu-vos a: sepi.bupc@upc.edu

 

Valid XHTML 1.0! Programari DSpace Copyright © 2002-2004 MIT and Hewlett-Packard Comentaris
Universitat Politècnica de Catalunya. Servei de Biblioteques, Publicacions i Arxius