|
E-prints UPC >
Enginyeria civil >
EGEO - Enginyeria Geomàtica >
Ponències/Comunicacions de congressos >
Empreu aquest identificador per citar o enllaçar aquest ítem:
http://hdl.handle.net/2117/646
|
| Citació: | Núñez, A.; Buill, F.; Múñoz, F. Comportamiento de un sensor láser escáner. En: " VI Semana Geomática". Barcelona, 2005 |
| Títol: | Comportamiento de un sensor láser escáner |
| Autor: | Núñez Andrés, María Amparo ; Buill Pozuelo, Felipe ; Muñoz Salinas, Francisco  |
| Editorial: | Semana Geomática |
| Data: | des-2004 |
| Tipus de document: | Article |
| Resum: | El uso de sistemas laser escaner terrestres para la realizacion de levantamientos cartograficos y no cartograficos, desde laderas o minas a cielo abierto a levantamientos arquitectonicos es cada vez mas usual en el ambito topografico. Por ello creemos que es fundamental conocer el comportamiento y la precision real que ofrecen estos sistemas laser ante diferentes condiciones de trabajo, como son la distancia al objeto, el angulo de incidencia sobre el elemento a levantar y el tipo de material que lo constituye (color-textura), todo ello para un determinado tipo de laser (longitud de onda determinado).
Para ello se han llevado a cabo varias pruebas combinando estos parámetros cuyos resultados se presentarán en la ponencia. |
| URI: | http://hdl.handle.net/2117/646 |
| Apareix a les col·leccions: | ETCG – Departament d’Enginyeria del Terreny, Cartogràfica i Geofísica. Articles de revista EGEO - Enginyeria Geomàtica. Ponències/Comunicacions de congressos
|
| Comparteix: |
|
Queda prohibida la reproducció, transformació, distribució i comunicació pública d'aquesta obra. Es permet, en tot cas, la reproducció per a ús privat sempre i quan la còpia que se'n faci no sigui objecte d'utilització col·lectiva ni lucrativa (art. 31.2 del Reial Decret Legislatiu 1/1996, de 12 d'abril, pel qual s'aprova el Text Refós de la Llei de Propietat Intel·lectual, http://bibliotecnica.upc.es/sepi/legislacio.asp).
Per a qualsevol ús que es vulgui fer diferent al permès, dirigiu-vos a: sepi@upc.edu
|