DSpace DSpace UPC
 Català   Castellano   English  

E-prints UPC >
Enginyeria electrònica i telecomunicacions >
HIPICS - High Performance Integrated Circuits and Systems >


HIPICS - High Performance Integrated Circuits and Systems

Altres : [1]

Cerca a aquesta col·lecció:


 




Llista per 
Subscriviu-vos per rebre un correu electrònic cada vegada que s'introdueixi un nou ítem en aquesta col·lecció.
Vista preliminarDataTítolAutor(s)
Non-invasive RF built-in testing.pdf.jpgnov-2009Non-invasive RF built-in testing using on-chip temperature sensorsAldrete Vidrio, Héctor; Onabajo, M.; Altet Sanahujes, Josep; Mateo Peña, Diego; Silva-Martínez, José

 

Valid XHTML 1.0! Programari DSpace Copyright © 2002-2004 MIT and Hewlett-Packard Comentaris
Universitat Politècnica de Catalunya. Servei de Biblioteques, Publicacions i Arxius