DSpace DSpace UPC
 Català   Castellano   English  

E-prints UPC >
Enginyeria electrònica i telecomunicacions >
QINE - Disseny de Baix Consum, Test, Verificació i Tolerància a Fallades >


QINE - Disseny de Baix Consum, Test, Verificació i Tolerància a Fallades

Reports de recerca : [7]

Cerca a aquesta col·lecció:


 




Llista per 
Subscriviu-vos per rebre un correu electrònic cada vegada que s'introdueixi un nou ítem en aquesta col·lecció.
Vista preliminarDataTítolAutor(s)
Variability_Scenarios.pdf.jpg1-mar-2012Process variability in sub-16nm bulk CMOS technologyRubio Sola, Jose Antonio; Figueras Pàmies, Joan; Vatajelu, Elena Ioana; Canal Corretger, Ramon
DMSD_2005_1.pdf.jpg15-set-2009An efficient and numerically stable method for computing interval availability distribution boundsCarrasco López, Juan Antonio
DMSD_2004_1.pdf.jpg15-set-2009A generalized method for the transient analysis of Markov models of fault-tolerant systems with deferred repairTemsamani, Jamal; Carrasco López, Juan Antonio
TRDDOCT-06-0001.pdf.jpgjun-2006Energy macro-model for on chip interconnection busesMendoza Vázquez, Raymundo; Pons Solé, Marc; Moll Echeto, Francisco de Borja; Figueras, Joan
DMSD_2006_1.pdf.jpg19-gen-2006Simulation of steady-state availability models of fault-tolerant systems with deferred repairCarrasco López, Juan Antonio
DMSD_99_2.pdf.jpg30-abr-2005Transient analysis of large Markov models with absorbing states using regenerative randomizationCarrasco López, Juan Antonio
DMSD_99_1.pdf.jpg11-des-2000A failure-distance based method to bound the reliability of non-repairable Fault-tolerant systems without the knowledge of minimal cutsSuñé Socías, Víctor Manuel; Carrasco López, Juan Antonio

 

Valid XHTML 1.0! Programari DSpace Copyright © 2002-2004 MIT and Hewlett-Packard Comentaris
Universitat Politècnica de Catalunya. Servei de Biblioteques, Publicacions i Arxius