E-prints UPC: Reports de recerca


Català Castellano English

	Pàgina d'inici
	Estadístiques d'ús

Llistar
	Comunitats
	Títol
	Autor
	Data
	Matèria
	Àrees temàtiques de la UPC

Serveis
	Alertes
	El meu E-prints UPC usuaris autoritzats
	Editar perfil
	Entrada usuaris no UPC



	Sobre DSpace

	Bibliotècnica: la biblioteca digital de la UPC

QINE - Disseny de Baix Consum, Test, Verificació i Tolerància a Fallades

Cerca a:	Cercar per:

o Llista per

Data	Títol	Autor(s)
1-mar-2012	Process variability in sub-16nm bulk CMOS technology	Rubio Sola, Jose Antonio; Figueras Pàmies, Joan; Vatajelu, Elena Ioana; Canal Corretger, Ramon
15-set-2009	An Efficient and Numerically Stable Method for Computing Interval Availability Distribution Bounds	Carrasco López, Juan Antonio
15-set-2009	A Generalized Method for the Transient Analysis of Markov Models of Fault-Tolerant Systems with Deferred Repair	Temsamani, Jamal; Carrasco López, Juan Antonio
jun-2006	Energy macro-model for on chip interconnection buses	Mendoza Vázquez, Raymundo; Pons Solé, Marc; Moll Echeto, Francisco de Borja; Figueras, Joan
19-gen-2006	Simulation of Steady-state Availability Models of Fault-Tolerant Systems with Deferred Repair	Carrasco López, Juan Antonio
30-abr-2005	Transient Analysis of Large Markov Models with Absorbing States using Regenerative Randomization	Carrasco López, Juan Antonio
11-des-2000	A Failure-Distance Based Method to Bound the Reliability of Non-Repairable Fault-Tolerant Systems without the Knowledge of Minimal Cuts	Suñé Socías, Víctor Manuel; Carrasco López, Juan Antonio