Silicon-Chip-Based Dielectric Spectroscopy for Conductivity and Molecular Dynamics Studies of Organic Films
Visualitza/Obre
Silicon chip based dielectric.pdf (2,345Mb) (Accés restringit)
Sol·licita una còpia a l'autor
Què és aquest botó?
Aquest botó permet demanar una còpia d'un document restringit a l'autor. Es mostra quan:
- Disposem del correu electrònic de l'autor
- El document té una mida inferior a 20 Mb
- Es tracta d'un document d'accés restringit per decisió de l'autor o d'un document d'accés restringit per política de l'editorial
Cita com:
hdl:2117/26553
Tipus de documentArticle
Data publicació2014-07-29
Condicions d'accésAccés restringit per política de l'editorial
Tots els drets reservats. Aquesta obra està protegida pels drets de propietat intel·lectual i
industrial corresponents. Sense perjudici de les exempcions legals existents, queda prohibida la seva
reproducció, distribució, comunicació pública o transformació sense l'autorització del titular dels drets
Abstract
Interdigital electrodes fabricated by standard lithography on silicon chips are employed to probe the dipolar molecular dynamics and electric conduction properties of thin rhodamine films grown with two different methods. The conductivity is due to electronic charge carriers, and at around room-temperature, it is higher by 1 order of magnitude in solution-deposited films than in thermally evaporated ones. The organic material exhibits two intrinsic dynamic processes, of which the one at higher temperature is due to the orientational motion of the dipole moment of the rhodamine units, while the one at lower temperature is due to the motion of a local dipole associated with the chlorine counterions and is absent in thermally evaporated films. Our results show that thin-film dielectric spectroscopy is an easily implementable and versatile tool to extract valuable information on thin organic films.
CitacióTripathi, P. [et al.]. Silicon-Chip-Based Dielectric Spectroscopy for Conductivity and Molecular Dynamics Studies of Organic Films. "Journal of Physical Chemistry Letters", 29 Juliol 2014, vol. 5, núm. 16, p. 2796-2801.
ISSN1948-7185
Versió de l'editorhttp://pubs.acs.org/doi/pdf/10.1021/jz501119a
Fitxers | Descripció | Mida | Format | Visualitza |
---|---|---|---|---|
Silicon chip based dielectric.pdf | 2,345Mb | Accés restringit |