Beam focalization in reflection from flat dielectric subwavelength gratings
Visualitza/Obre
Beam focalization in refletion from flat.pdf (409,3Kb) (Accés restringit)
Sol·licita una còpia a l'autor
Què és aquest botó?
Aquest botó permet demanar una còpia d'un document restringit a l'autor. Es mostra quan:
- Disposem del correu electrònic de l'autor
- El document té una mida inferior a 20 Mb
- Es tracta d'un document d'accés restringit per decisió de l'autor o d'un document d'accés restringit per política de l'editorial
Cita com:
hdl:2117/26401
Tipus de documentArticle
Data publicació2014-10-15
Condicions d'accésAccés restringit per política de l'editorial
Llevat que s'hi indiqui el contrari, els
continguts d'aquesta obra estan subjectes a la llicència de Creative Commons
:
Reconeixement-NoComercial-SenseObraDerivada 3.0 Espanya
Abstract
We experimentally demonstrate the recently predicted effect of near-field focusing for light beams from flat dielectric subwavelength gratings (SWGs). This SWGs were designed for visible light 532 nm and fabricated by direct laser writing in a negative photoresist, with the refractive index n = 1.5 and the period d = 314 nm. The laterally invariant gratings can focus light beams without any optical axis to achieve the transversal invariance. We show that focal distances can be obtained up to 13 mu m at normal reflection for TE polarization.
CitacióCheng, Y. [et al.]. Beam focalization in reflection from flat dielectric subwavelength gratings. "Optics letters", 15 Octubre 2014, vol. 39, núm. 20, p. 6086-6089.
ISSN0146-9592
Col·leccions
Fitxers | Descripció | Mida | Format | Visualitza |
---|---|---|---|---|
Beam focalization in refletion from flat.pdf | 409,3Kb | Accés restringit |