Criteria for indirect measurements in M-S testing
Visualitza/Obre
Criteria for Indirect Measurements in M-S Testing.pdf (3,098Mb) (Accés restringit)
Sol·licita una còpia a l'autor
Què és aquest botó?
Aquest botó permet demanar una còpia d'un document restringit a l'autor. Es mostra quan:
- Disposem del correu electrònic de l'autor
- El document té una mida inferior a 20 Mb
- Es tracta d'un document d'accés restringit per decisió de l'autor o d'un document d'accés restringit per política de l'editorial
Estadístiques de LA Referencia / Recolecta
Inclou dades d'ús des de 2022
Cita com:
hdl:2117/26217
Tipus de documentText en actes de congrés
Data publicació2014
Condicions d'accésAccés restringit per decisió de l'autor
Tots els drets reservats. Aquesta obra està protegida pels drets de propietat intel·lectual i
industrial corresponents. Sense perjudici de les exempcions legals existents, queda prohibida la seva
reproducció, distribució, comunicació pública o transformació sense l'autorització del titular dels drets
Abstract
Analog and mixed-signal circuit testing is a cballenging
task demanding large amounts of resources. In order to battle
against this drawback, alternate testing has been established as an
eflicient way of testing analog and M-S circuits by using indirect
measures instead of the classic specification based testing. In
this work we propose the use of Kendall's Tau rank correlation
coeflicient for rating the suitability of a set of candidate indirect
measures to be used in mixed-signal testing. Such criterion is
shown to be adequate since it allows to avoid or minimize
information redundancy in the measures set. As a proof of
concept, a 4th order band-pass Butterworth filter has been
simulated under the presence of process variations. The circuit
has been tested using a subset of measures selected according to
minimum Kendall's Tau coeflicient. Analog test efliciency metrics
are reported showing test misclassification rate is among the best
15% possible, therefore validating the proposal.
CitacióÁlvaro Gómez-Pau; Balado, L.; Figueras, J. Criteria for indirect measurements in M-S testing. A: Workshop on Statistical Test Methods. "Handout of papers: 1st Workshop on statistical test methods: 29-30 May 2014, Paderborn, germany: fringe event to ETS 2014". Paderborn: 2014, p. 1-6.
Col·leccions
- QINE - Disseny de Baix Consum, Test, Verificació i Tolerància a Fallades - Ponències/Comunicacions de congressos [60]
- QINE - Disseny de Baix Consum, Test, Verificació i Circuits Integrats de Seguretat - Ponències/Comunicacions de congressos [78]
- Departament d'Enginyeria Electrònica - Ponències/Comunicacions de congressos [1.715]
Fitxers | Descripció | Mida | Format | Visualitza |
---|---|---|---|---|
Criteria for In ... rements in M-S Testing.pdf | 3,098Mb | Accés restringit |