Reliability challenges in design of memristive memories
Visualitza/Obre
Cita com:
hdl:2117/25636
Tipus de documentText en actes de congrés
Data publicació2014
Condicions d'accésAccés obert
Tots els drets reservats. Aquesta obra està protegida pels drets de propietat intel·lectual i
industrial corresponents. Sense perjudici de les exempcions legals existents, queda prohibida la seva
reproducció, distribució, comunicació pública o transformació sense l'autorització del titular dels drets
CitacióPouyan, P.; Amat, E.; Rubio, A. Reliability challenges in design of memristive memories. A: European workshop on CMOS Variability. "Proceedings VARI 2014". Palma Mallorca: 2014.
Fitxers | Descripció | Mida | Format | Visualitza |
---|---|---|---|---|
VARI paper_2014_modified.pdf | 615,1Kb | Visualitza/Obre |