DSpace DSpace UPC
 Català   Castellano   English  

E-prints UPC >
Enginyeria electrònica i telecomunicacions >
MNT - Grup de Recerca en Micro i Nanotecnologies >
Articles de revista >

Empreu aquest identificador per citar o enllaçar aquest ítem: http://hdl.handle.net/2117/2454

Arxiu Descripció MidaFormat
Quero.pdf1,22 MBAdobe PDFThumbnail
Veure/Obrir

Citació: Quero, J.M.; Aracil, C.; Franquelo, L.G.; Ricart, J.; Ortega, P.R.; Domínguez, M.; Castañer, L.M.; Osuna, R. Tracking control system using an incident radiation angle microsensor. A: IEEE Transactions on Industrial Electronics, 2007, vol. 54, p.1207-1216.
Títol: Tracking control system using an incident radiation angle microsensor
Autor: Quero Reboul, José Ma.; Aracil Fernández, Carmen; García Franquelo, Leopoldo; Ricart Campos, Jordi Veure Producció científica UPC; Ortega Villasclaras, Pablo Rafael Veure Producció científica UPC; Domínguez Pumar, Manuel Veure Producció científica UPC; Castañer Muñoz, Luis María Veure Producció científica UPC; Osuna, Rafael
Editorial: IEEE
Data: 3-abr-2006
Tipus de document: Article
Resum: For some industrial applications, an accurate estimation of a light source position is needed. That is the case for a heliostat, a device that projects sunlight onto a focus hundreds of meters away from its aiming point. In this paper, we present a novel sensor design for generating an alignment error signal. Included is a detailed study of its response, which shows that certain geometrical design parameters are necessary to achieve desired accuracy. This sensor has been implemented using microelectromechanical system techniques to achieve a robust structure at low cost and it has been successfully applied to sun-tracking systems. Experimental results obtained in field tests are included.
ISSN: 0278-0046
URI: http://hdl.handle.net/2117/2454
DOI: 10.1109/TIE.2007.893075
Apareix a les col·leccions:MNT - Grup de Recerca en Micro i Nanotecnologies. Articles de revista
Departament d'Enginyeria Electrònica. Articles de revista
Comparteix:


Stats Mostra les estadístiques d'aquest ítem

SFX Query

Tots els drets reservats. Aquesta obra està protegida pels drets de propietat intel·lectual i industrial corresponents. Sense perjudici de les exempcions legals existents, queda prohibida la seva reproducció, distribució, comunicació pública o transformació sense l'autorització del titular dels drets.

Per a qualsevol ús que se'n vulgui fer no previst a la llei, dirigiu-vos a: sepi.bupc@upc.edu

 

Valid XHTML 1.0! Programari DSpace Copyright © 2002-2004 MIT and Hewlett-Packard Comentaris
Universitat Politècnica de Catalunya. Servei de Biblioteques, Publicacions i Arxius