DSpace DSpace UPC
 Català   Castellano   English  

E-prints UPC >
Enginyeria electrònica i telecomunicacions >
MNT - Grup de Recerca en Micro i Nanotecnologies >
Articles de revista >

Empreu aquest identificador per citar o enllaçar aquest ítem: http://hdl.handle.net/2117/2425

Ítem no disponible en accés obert per política de l'editorial

Arxiu Descripció MidaFormat
Nadazdy.pdf78,48 kBAdobe PDF Accés restringit

Citació: Nadaždy, V.; Durný, R.; Puigdollers, J.; Voz, C.; Cheylan, S.; Gmicová, K. Experimental observation of oxygen-related defect state in pentacene thin films. A: Applied Physics Letters, 2007, vol,. 90, 092112.
Títol: Experimental observation of oxygen-related defect state in pentacene thin films
Autor: Nadaždy, Vojtech; Durný, Rudolf; Puigdollers i González, Joaquim Veure Producció científica UPC; Voz Sánchez, Cristóbal Veure Producció científica UPC; Cheylan, Stephanie; Gmucová, K.
Editorial: American Institute of Physics
Data: 20-nov-2006
Tipus de document: Article
Resum: The authors report on a metastable defect observed in pentacene thin films. The defect, which is characterized by a hole trap at Ev+0.6 eV and attempt-to-escape frequency of 5x1012 s−1, can be reversibly created/removed under a negative/positive bias voltage applied to the aluminum/ pentacene Schottky diode at room temperature in air. Annealing the sample in vacuum at 360 K removes the defect and prevents its creation by application of any bias voltage in vacuum. Considering recent calculations of defects in pentacene the authors assume that the defect is formed by replacing one of the hydrogen atoms by an oxygen atom (C22 H13 O).
ISSN: 0003-6951
URI: http://hdl.handle.net/2117/2425
DOI: 10.1063/1.2710203
Apareix a les col·leccions:MNT - Grup de Recerca en Micro i Nanotecnologies. Articles de revista
Departament d'Enginyeria Electrònica. Articles de revista
Comparteix:


Stats Mostra les estadístiques d'aquest ítem

SFX Query

Tots els drets reservats. Aquesta obra està protegida pels drets de propietat intel·lectual i industrial corresponents. Sense perjudici de les exempcions legals existents, queda prohibida la seva reproducció, distribució, comunicació pública o transformació sense l'autorització del titular dels drets.

Per a qualsevol ús que se'n vulgui fer no previst a la llei, dirigiu-vos a: sepi.bupc@upc.edu

 

Valid XHTML 1.0! Programari DSpace Copyright © 2002-2004 MIT and Hewlett-Packard Comentaris
Universitat Politècnica de Catalunya. Servei de Biblioteques, Publicacions i Arxius