Reducing DUE-FIT of caches by exploiting acoustic wave detectors for error recovery
Visualitza/Obre
Reducing DUE-FIT of caches by exploiting acoustic wave detectors for error recovery.pdf (969,9Kb) (Accés restringit)
Sol·licita una còpia a l'autor
Què és aquest botó?
Aquest botó permet demanar una còpia d'un document restringit a l'autor. Es mostra quan:
- Disposem del correu electrònic de l'autor
- El document té una mida inferior a 20 Mb
- Es tracta d'un document d'accés restringit per decisió de l'autor o d'un document d'accés restringit per política de l'editorial
Cita com:
hdl:2117/21830
Tipus de documentText en actes de congrés
Data publicació2013
EditorIEEE Computer Society Publications
Condicions d'accésAccés restringit per política de l'editorial
Llevat que s'hi indiqui el contrari, els
continguts d'aquesta obra estan subjectes a la llicència de Creative Commons
:
Reconeixement-NoComercial-SenseObraDerivada 3.0 Espanya
Abstract
Cosmic radiation induced soft errors have emerged as a key challenge in computer system design. The exponential increase in the transistor count will drive the per chip fault rate sky high. New techniques for detecting errors in the logic and memories that allow meeting the desired failures in-time (FIT) budget in future chip multiprocessors (CMPs) are essential. Among the two major contributors towards soft error rate, silent data corruption (SDC) and detected unrecoverable error (DUE), DUE is the largest. Moreover, processors can experience a super-linear increase in DUE when the size of the write-back cache is doubled. This paper targets the DUE problem in write-back data caches. We analyze the cost of protection against single bit and multi-bit upsets into caches. Our results show that the proposed mechanism can reduce the DUE to “0” with minimum area, power and performance overheads.
CitacióUpasani, G.; Vera, X.; Gonzalez, A. Reducing DUE-FIT of caches by exploiting acoustic wave detectors for error recovery. A: IEEE International On-Line Testing Symposium. "Proceedings of the 2013 IEEE 19th International On-Line Testing Symposium (IOLTS): 8-10 July 2013: Chania, Crete, Greece". Chania: IEEE Computer Society Publications, 2013, p. 85-91.
ISBN978-1-4799-0662-8
Versió de l'editorhttp://ieeexplore.ieee.org/xpls/abs_all.jsp?arnumber=6604056&tag=1
Fitxers | Descripció | Mida | Format | Visualitza |
---|---|---|---|---|
Reducing DUE-FI ... ors for error recovery.pdf | Reducing DUE-FIT of caches by exploiting acoustic wave detectors for error recovery.pdf | 969,9Kb | Accés restringit |