A single event transient hardening circuit design technique based on strengthening
Visualitza/Obre
Single.pdf (1,256Mb) (Accés restringit)
Sol·licita una còpia a l'autor
Què és aquest botó?
Aquest botó permet demanar una còpia d'un document restringit a l'autor. Es mostra quan:
- Disposem del correu electrònic de l'autor
- El document té una mida inferior a 20 Mb
- Es tracta d'un document d'accés restringit per decisió de l'autor o d'un document d'accés restringit per política de l'editorial
10.1109/MWSCAS.2013.6674775
Inclou dades d'ús des de 2022
Cita com:
hdl:2117/21338
Tipus de documentText en actes de congrés
Data publicació2013
EditorInstitute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
Condicions d'accésAccés restringit per política de l'editorial
Tots els drets reservats. Aquesta obra està protegida pels drets de propietat intel·lectual i
industrial corresponents. Sense perjudici de les exempcions legals existents, queda prohibida la seva
reproducció, distribució, comunicació pública o transformació sense l'autorització del titular dels drets
Abstract
In a near future of high-density and low-power technologies, the study of soft errors will not only be relevant for memory systems and latches of logic circuits, but also for the combinational parts of logic circuits which seriously affect the system's operation. In this paper, we present a novel design strategy to reduce the impact of radiation-induced single event transients (SET) on logic circuits. This design style achieves SET mitigation by Strengthening the sensitive node using a likeness to feedback techniques. We have analyzed several techniques from hardening radiation at transistor level to a single event transient in 7nm FinFET devices. Simulation results have shown the proposed method has higher soft error robustness than the existing ones.
CitacióCalomarde, A. [et al.]. A single event transient hardening circuit design technique based on strengthening. A: IEEE International Midwest Symposium on Circuits and Systems. "Proceedings of the MWSCAS 2013 - 2013 IEEE 56th International Midwest Symposium on Circuits and Systems". Columbus: Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), 2013, p. 821-824.
ISBN978-1-4799-0064-0
Fitxers | Descripció | Mida | Format | Visualitza |
---|---|---|---|---|
Single.pdf | 1,256Mb | Accés restringit |