Performance of a spatial error correction technique in SMOS brightness temperature images
Visualitza/Obre
Proceedings microRad IEEE (1,634Mb) (Accés restringit)
Sol·licita una còpia a l'autor
Què és aquest botó?
Aquest botó permet demanar una còpia d'un document restringit a l'autor. Es mostra quan:
- Disposem del correu electrònic de l'autor
- El document té una mida inferior a 20 Mb
- Es tracta d'un document d'accés restringit per decisió de l'autor o d'un document d'accés restringit per política de l'editorial
Cita com:
hdl:2117/19326
Tipus de documentText en actes de congrés
Data publicació2012
EditorInstitute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
Condicions d'accésAccés restringit per política de l'editorial
Tots els drets reservats. Aquesta obra està protegida pels drets de propietat intel·lectual i
industrial corresponents. Sense perjudici de les exempcions legals existents, queda prohibida la seva
reproducció, distribució, comunicació pública o transformació sense l'autorització del titular dels drets
Abstract
Soil
Moisture
and
Ocean
Salinity
(SMOS)
brightness
temperature
synthesized
images
are
obtained
after
a
comprehensive
calibration
and
error
correction
procedure.
However,
the
final
images
are
still
contaminated
by
small
but
non-negligible
spatial
errors:
the
so-called
pixel
bias.
These
errors
have
been
found
to
be
very
stable
in
the
SMOS
Alias-Free
Field
of
View
(AF-FoV)
and
can
be
mitigated,
to
a
large
extent,
by
applying
a
multiplicative
mask
to
the
measured
brightness
temperatures
at
the
antenna
plane.
This
paper
describes
the
procedure
to
upgrade
this
mask
to
cover
SMOS
Extended
AF
FoV.
CitacióWu, L. [et al.]. Performance of a spatial error correction technique in SMOS brightness temperature images. A: Specialist Meeting on Microwave Radiometry and Remote Sensing of the Environment. "MicroRad 2012: 12th Specialist Meeting on Microwave Radiometry and Remote Sensing of the Environement: 5-9 March, 2012: Villa Mondragone, Tor Vergata University of Rome". Roma: Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), 2012, p. 1-5.
ISBN978-1-4673-1470-1
Versió de l'editorhttp://ieeexplore.ieee.org/stamp/stamp.jsp?arnumber=06185262
Col·leccions
- RF&MW - Grup de Recerca de Sistemes, Dispositius i Materials de RF i Microones - Ponències/Comunicacions de congressos [151]
- RSLAB - Remote Sensing Research Group - Ponències/Comunicacions de congressos [651]
- Departament de Teoria del Senyal i Comunicacions - Ponències/Comunicacions de congressos [3.313]
Fitxers | Descripció | Mida | Format | Visualitza |
---|---|---|---|---|
SpatialErrorWuLin06185262.pdf | Proceedings microRad IEEE | 1,634Mb | Accés restringit |