|
E-prints UPC >
Altres >
Enviament des de DRAC >
Empreu aquest identificador per citar o enllaçar aquest ítem:
http://hdl.handle.net/2117/16725
|
Ítem no disponible en accés obert per política de l'editorial
| Arxiu |
Descripció |
Mida | Format |
| quantification_dissipation.pdf | | 728.1 kB | Adobe PDF |  |
|
| Citació: | Santos, S. [et al.]. Quantification of dissipation and deformation in ambient atomic force microscopy. "New journal of physics", 20 Juliol 2012, vol. 14, p. 1-12. |
| Títol: | Quantification of dissipation and deformation in ambient atomic force microscopy |
| Autor: | Santos, Sergio; Gadelrab,, K.; Barcons Xixons, Víctor ; Stefancich, M.; Chiesa, Matteo |
| Data: | 20-jul-2012 |
| Tipus de document: | Article |
| Resum: | A formalism to extract and quantify unknown quantities such as
sample deformation, the viscosity of the sample and surface energy hysteresis
in amplitude modulation atomic force microscopy is presented. Recovering
the unknowns only requires the cantilever to be accurately calibrated and the
dissipative processes occurring during sample deformation to be well modeled.
The theory is validated by comparison with numerical simulations and shown
to be able to provide, in principle, values of sample deformation with picometer
resolution. |
| ISSN: | 1367-2630 |
| URI: | http://hdl.handle.net/2117/16725 |
| Versió de l'editor: | 10.1088/1367-2630/14/7/073044 |
| Versió de l'editor: | http://iopscience.iop.org/1367-2630/14/7/073044 |
| Apareix a les col·leccions: | Departament de Disseny i Programació de Sistemes Electrònics. Articles de revista SEPIC - Sistemes Electrònics de Potència i de Control. Articles de revista Altres. Enviament des de DRAC
|
| Comparteix: |
|
Queda prohibida la reproducció, transformació, distribució i comunicació pública d'aquesta obra. Es permet, en tot cas, la reproducció per a ús privat sempre i quan la còpia que se'n faci no sigui objecte d'utilització col·lectiva ni lucrativa (art. 31.2 del Reial Decret Legislatiu 1/1996, de 12 d'abril, pel qual s'aprova el Text Refós de la Llei de Propietat Intel·lectual, http://bibliotecnica.upc.es/sepi/legislacio.asp).
Per a qualsevol ús que es vulgui fer diferent al permès, dirigiu-vos a: sepi@upc.edu
|