DSpace DSpace UPC
 Català   Castellano   English  

E-prints UPC >
Altres >
Enviament des de DRAC >

Empreu aquest identificador per citar o enllaçar aquest ítem: http://hdl.handle.net/2117/16582

Ítem no disponible en accés obert per política de l'editorial

Arxiu Descripció MidaFormat
06231060.pdf963,62 kBAdobe PDF Accés restringit

Citació: Rubio, J.A.; Amat, E.; Pouyan, P. Process variability-aware proactive reconfiguration techniques for mitigating aging effects in nano scale SRAM lifetime. A: VLSI Test Symposium. "Proceedings of the VLSI Test Symposium". Hawaii: IEEE Press. Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2012, p. 240-245.
Títol: Process variability-aware proactive reconfiguration techniques for mitigating aging effects in nano scale SRAM lifetime
Autor: Rubio Sola, Jose Antonio Veure Producció científica UPC; Amat Bertran, Esteve Veure Producció científica UPC; Pouyan, Peyman Veure Producció científica UPC
Editorial: IEEE Press. Institute of Electrical and Electronics Engineers
Data: 2012
Tipus de document: Conference lecture
Resum: Process variations and device aging have a significant impact on the reliability and performance of nano scale integrated circuits. Proactive reconfiguration is an emerging technique to extend the lifetime of embedded SRAM memories. This work introduces a novel version that modifies and enhances the advantages of this method by considering the process variability impact on the memory components. Our results show between 30% and 45% SRAM lifetime increases over the existing proactive reconfiguration technique and between 1.7X and ~10X improvement over the non-proactive reconfiguration.
URI: http://hdl.handle.net/2117/16582
Versió de l'editor: http://ieeexplore.ieee.org/stamp/stamp.jsp?tp=&arnumber=6231060
Apareix a les col·leccions:Altres. Enviament des de DRAC
HIPICS - High Performance Integrated Circuits and Systems. Ponències/Comunicacions de congressos
Departament d'Enginyeria Electrònica. Ponències/Comunicacions de congressos
Comparteix:


Stats Mostra les estadístiques d'aquest ítem

SFX Query

Tots els drets reservats. Aquesta obra està protegida pels drets de propietat intel·lectual i industrial corresponents. Sense perjudici de les exempcions legals existents, queda prohibida la seva reproducció, distribució, comunicació pública o transformació sense l'autorització del titular dels drets.

Per a qualsevol ús que se'n vulgui fer no previst a la llei, dirigiu-vos a: sepi.bupc@upc.edu

 

Valid XHTML 1.0! Programari DSpace Copyright © 2002-2004 MIT and Hewlett-Packard Comentaris
Universitat Politècnica de Catalunya. Servei de Biblioteques, Publicacions i Arxius