Process variability-aware proactive reconfiguration techniques for mitigating aging effects in nano scale SRAM lifetime
Visualitza/Obre
06231060.pdf (963,6Kb) (Accés restringit)
Sol·licita una còpia a l'autor
Què és aquest botó?
Aquest botó permet demanar una còpia d'un document restringit a l'autor. Es mostra quan:
- Disposem del correu electrònic de l'autor
- El document té una mida inferior a 20 Mb
- Es tracta d'un document d'accés restringit per decisió de l'autor o d'un document d'accés restringit per política de l'editorial
Estadístiques de LA Referencia / Recolecta
Inclou dades d'ús des de 2022
Cita com:
hdl:2117/16582
Tipus de documentComunicació de congrés
Data publicació2012
EditorIEEE Press. Institute of Electrical and Electronics Engineers
Condicions d'accésAccés restringit per política de l'editorial
Tots els drets reservats. Aquesta obra està protegida pels drets de propietat intel·lectual i
industrial corresponents. Sense perjudici de les exempcions legals existents, queda prohibida la seva
reproducció, distribució, comunicació pública o transformació sense l'autorització del titular dels drets
Abstract
Process variations and device aging have a significant
impact on the reliability and performance of nano scale
integrated circuits. Proactive reconfiguration is an emerging
technique to extend the lifetime of embedded SRAM memories.
This work introduces a novel version that modifies and enhances
the advantages of this method by considering the process
variability impact on the memory components. Our results show
between 30% and 45% SRAM lifetime increases over the
existing proactive reconfiguration technique and between 1.7X
and ~10X improvement over the non-proactive reconfiguration.
CitacióRubio, J.A.; Amat, E.; Pouyan, P. Process variability-aware proactive reconfiguration techniques for mitigating aging effects in nano scale SRAM lifetime. A: VLSI Test Symposium. "Proceedings of the VLSI Test Symposium". Hawaii: IEEE Press. Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2012, p. 240-245.
Versió de l'editorhttp://ieeexplore.ieee.org/stamp/stamp.jsp?tp=&arnumber=6231060
Fitxers | Descripció | Mida | Format | Visualitza |
---|---|---|---|---|
06231060.pdf | 963,6Kb | Accés restringit |