DSpace DSpace UPC
 Català   Castellano   English  

E-prints UPC >
Altres >
Enviament des de DRAC >

Empreu aquest identificador per citar o enllaçar aquest ítem: http://hdl.handle.net/2117/16281

Ítem no disponible en accés obert per política de l'editorial

Arxiu Descripció MidaFormat
Fault-tolerant nanoscale architecture based on linear threshold gates.pdf842,93 kBAdobe PDF Accés restringit

Citació: Aymerich, N.; Rubio, J.A. Fault-tolerant nanoscale architecture based on linear threshold gates with redundancy. "Microprocessors and microsystems", Juliol 2012, vol. 36, núm. 5, p. 420-426.
Títol: Fault-tolerant nanoscale architecture based on linear threshold gates with redundancy
Autor: Aymerich Capdevila, Nivard Veure Producció científica UPC; Rubio Sola, Jose Antonio Veure Producció científica UPC
Data: jul-2012
Tipus de document: Article
Resum: One of the main objectives of the data computing and memory industry is to keep and ever accelerate the increase of component density reached in nowadays integrated circuits in future technologies based on ultimate CMOS and new emerging research devices. The worldwide-accepted predictions with these technologies indicate a remarkable reduction of the components quality, because of the manufacturing process complexity and the erratic behavior of devices, causing a drop in the system reliability if we maintain the same design rules than today. Together with the introduction of new devices, new architectural design paradigms have to be included. Fault tolerant techniques are considered necessary and relevant in this scenario. In this paper we present a fault-tolerant nanoscale architecture based on the implementation of logic systems with Averaging Cells Linear Threshold Gates (AC-LTGs). We compare the tolerance to manufacturing and environment deviation of our approach and the well known NAND multiplexing technique. We show that the AC-LTG is a valuable alternative in specific nanoscale conditions.
ISSN: 0141-9331
URI: http://hdl.handle.net/2117/16281
DOI: 10.1016/j.micpro.2012.02.003
Versió de l'editor: http://dx.doi.org/10.1016/j.micpro.2012.02.003
Apareix a les col·leccions:Altres. Enviament des de DRAC
HIPICS - High Performance Integrated Circuits and Systems. Articles de revista
Departament d'Enginyeria Electrònica. Articles de revista
Comparteix:


Stats Mostra les estadístiques d'aquest ítem

SFX Query

Aquest ítem (excepte textos i imatges no creats per l'autor) està subjecte a una llicència de Creative Commons Llicència Creative Commons
Creative Commons

 

Valid XHTML 1.0! Programari DSpace Copyright © 2002-2004 MIT and Hewlett-Packard Comentaris
Universitat Politècnica de Catalunya. Servei de Biblioteques, Publicacions i Arxius