DSpace DSpace UPC
 Català   Castellano   English  

E-prints UPC >
Altres >
Enviament des de DRAC >

Empreu aquest identificador per citar o enllaçar aquest ítem: http://hdl.handle.net/2117/16192

Ítem no disponible en accés obert per política de l'editorial

Arxiu Descripció MidaFormat
Micrometric Deformation Imaging at W-Band.pdf1.03 MBAdobe PDF Accés restringit

Citació: Abril, J. [et al.]. Micrometric deformation imaging at W-Band. A: IEEE International Microwave Workshop. "IMWS 2011, Proceedings". Kaist: IEEE, 2011, p. 65-68.
Títol: Micrometric deformation imaging at W-Band
Autor: Abril, Jordi; Nova, Enrique; Broquetas Ibars, Antoni Veure Producció científica UPC; Aguasca Solé, Alberto Veure Producció científica UPC; Romeu Robert, Jordi Veure Producció científica UPC; Jofre Roca, Lluís Veure Producció científica UPC
Editorial: IEEE
Data: 2011
Tipus de document: Conference report
Resum: The measurement of scattered signals at W Band can be exploited to form images of small deformations with precisions in the order of tenths of micrometers. In this paper an Interferometric Synthetic Aperture Radar setup is proposed to form high resolution reflectivity images and deformation maps of dielectric or metallic surfaces. First, the system geometry of observation based on a linear motion of the radar antennas is described. A CW frequency domain measurement provides the wide band required for high resolution imaging. The scattered field data is focused on the surface spatial domain using a combination of range compression based on Inverse Fourier Transform combined with a backprojection algorithm to form the synthetic aperture with a high cross range resolution. The focusing performance has been assessed by numerical simulations and experimental measurements of simple scattering objects like spheres and trihedrals. Interferometric images of controlled displacements have been obtained showing a good agreement between real and measured displacements. A representative surface deformation test has been also carried out using a metallic rough surface. The interferometric phase difference between acquisitions can be used to image local deformations in the order of tens of micrometers from a range of several meters. Likewise the interferogram coherence shows the degree of decorrelation of the radar reflectivity which provides valuable information for surface random change assessment.
ISBN: 978-1-61284-963-8
URI: http://hdl.handle.net/2117/16192
DOI: 10.1109/IMWS3.2011.6061889
Versió de l'editor: http://ieeexplore.ieee.org/search/srchabstract.jsp?tp=&arnumber=6061889&openedRefinements%3D*%26filter%3DAND%28NOT%284283010803%29%29%26searchField%3DSearch+All%26queryText%3D10.1109%2FIMWS3.2011.6061889
Apareix a les col·leccions:Altres. Enviament des de DRAC
RSLAB - Remote Sensing Research Group. Ponències/Comunicacions de congressos
ANTENNALAB - Grup d'Antenes i Sistemes Radio. Ponències/Comunicacions de congressos
Departament de Teoria del Senyal i Comunicacions. Ponències/Comunicacions de congressos
Comparteix:


Stats Mostra les estadístiques d'aquest ítem

SFX Query

Tots els drets reservats. Aquesta obra està protegida pels drets de propietat intel·lectual i industrial corresponents. Sense perjudici de les exempcions legals existents, queda prohibida la seva reproducció, distribució, comunicació pública o transformació sense l'autorització del titular dels drets.

Per a qualsevol ús que se'n vulgui fer no previst a la llei, dirigiu-vos a: sepi.bupc@upc.edu

 

Valid XHTML 1.0! Programari DSpace Copyright © 2002-2004 MIT and Hewlett-Packard Comentaris
Universitat Politècnica de Catalunya. Servei de Biblioteques, Publicacions i Arxius