DSpace DSpace UPC
 Català   Castellano   English  

E-prints UPC >
Altres >
Enviament des de DRAC >

Empreu aquest identificador per citar o enllaçar aquest ítem: http://hdl.handle.net/2117/16134

Ítem no disponible en accés obert per política de l'editorial

Arxiu Descripció MidaFormat
06157611.pdf1,69 MBAdobe PDF Accés restringit

Citació: Delgado, F. [et al.]. Accurate and wide field of view MEMS-based sun sensor for industrial applications. "IEEE transactions on industrial electronics", 24 Febrer 2012, vol. PP, núm. 97, p. 1-9.
Títol: Accurate and wide field of view MEMS-based sun sensor for industrial applications
Autor: Delgado, Francisco; Quero, J.M.; Garcia Ortega, Juan; López Tarrida, Cristina; Ortega Villasclaras, Pablo Rafael Veure Producció científica UPC; Bermejo Broto, Sandra Veure Producció científica UPC
Editorial: IEEE Press. Institute of Electrical and Electronics Engineers
Data: 24-feb-2012
Tipus de document: Article
Resum: This paper describes the design, fabrication, simulation, and experimental results of an improved miniaturized two-axis sun sensor for industrial applications, created by adapting a technology used previously in satellite applications. The sensor for each axis is composed of six photodiodes integrated in a crystalline silicon substrate, and a layer of cover glass, which is used to protect the silicon and to hold the windows. The high precision is obtained by the subdivision of the field of view (FOV), which is ±60º, with a resolution of 0.1º. Each region is controlled by an independent high precision solar sensor. The sensor can be used for sun tracking applications in photovoltaic system, heliostat concentration plants and lighting applications.
ISSN: 0278-0046
URI: http://hdl.handle.net/2117/16134
DOI: 10.1109/TIE.2012.2188872
Apareix a les col·leccions:Altres. Enviament des de DRAC
MNT - Grup de Recerca en Micro i Nanotecnologies. Articles de revista
Departament d'Enginyeria Electrònica. Articles de revista
Comparteix:


Stats Mostra les estadístiques d'aquest ítem

SFX Query

Tots els drets reservats. Aquesta obra està protegida pels drets de propietat intel·lectual i industrial corresponents. Sense perjudici de les exempcions legals existents, queda prohibida la seva reproducció, distribució, comunicació pública o transformació sense l'autorització del titular dels drets.

Per a qualsevol ús que se'n vulgui fer no previst a la llei, dirigiu-vos a: sepi.bupc@upc.edu

 

Valid XHTML 1.0! Programari DSpace Copyright © 2002-2004 MIT and Hewlett-Packard Comentaris
Universitat Politècnica de Catalunya. Servei de Biblioteques, Publicacions i Arxius