DSpace DSpace UPC
 Català   Castellano   English  

E-prints UPC >
Altres >
Enviament des de DRAC >

Empreu aquest identificador per citar o enllaçar aquest ítem: http://hdl.handle.net/2117/15767

Arxiu Descripció MidaFormat
Font.Santos.Barcons.Verdaguer.Chiesa.Spatial horizons in AM and FM AFM.pdfArticle935,91 kBAdobe PDFThumbnail
Veure/Obrir

Citació: Font, J. [et al.]. Spatial horizons in amplitude and frequency modulation atomic force microscopy. "Nanoscale", 26 Gener 2012, vol. 7, núm. 4, p. 2463-2469.
Títol: Spatial horizons in amplitude and frequency modulation atomic force microscopy
Autor: Font Teixidó, Josep Veure Producció científica UPC; Santos Hernández, Sergio Veure Producció científica UPC; Barcons Xixons, Víctor Veure Producció científica UPC; Thomson, Neil H.; Verdaguer, Albert; Chiesa, Matteo
Data: 26-gen-2012
Tipus de document: Article
Resum: In dynamic atomic force microscopy (AFM) the cantilever is vibrated and its dynamics are monitored to probe the sample with nanoscale and atomic resolution. Amplitude and frequency modulation (AM and FM) atomic force microscopy have established themselves as the most powerful, robust and reliable techniques in the field. Nevertheless, it is still debatable whether one or the other technique is preferred in a given medium or experiment. Here, we quantitatively establish the limitations in resolution of one and the other technique by introducing the concept of space horizon SH and quantifying it. The SH is the limiting space boundary beyond which collective atomic interactions do not affect the detection parameters of a given feedback system. We show that while an FM feedback can resolve an atom where an AM feedback might fail, relative contrast is in fact equivalent for both feedback systems. That is, if the AM feedback could detect sufficiently small amplitude shifts and there was no noise, single atom imaging would be equivalent in AM and FM.
ISSN: 2040-3364
URI: http://hdl.handle.net/2117/15767
DOI: 10.1039/c2nr12012g
Apareix a les col·leccions:Altres. Enviament des de DRAC
SEPIC - Sistemes Electrònics de Potència i de Control. Articles de revista
Departament de Disseny i Programació de Sistemes Electrònics. Articles de revista
Comparteix:


Stats Mostra les estadístiques d'aquest ítem

SFX Query

Tots els drets reservats. Aquesta obra està protegida pels drets de propietat intel·lectual i industrial corresponents. Sense perjudici de les exempcions legals existents, queda prohibida la seva reproducció, distribució, comunicació pública o transformació sense l'autorització del titular dels drets.

Per a qualsevol ús que se'n vulgui fer no previst a la llei, dirigiu-vos a: sepi.bupc@upc.edu

 

Valid XHTML 1.0! Programari DSpace Copyright © 2002-2004 MIT and Hewlett-Packard Comentaris
Universitat Politècnica de Catalunya. Servei de Biblioteques, Publicacions i Arxius