DSpace DSpace UPC
 Català   Castellano   English  

E-prints UPC >
Altres >
Enviament des de DRAC >

Empreu aquest identificador per citar o enllaçar aquest ítem: http://hdl.handle.net/2117/14597

Arxiu Descripció MidaFormat
dcis2011.pdf1,69 MBAdobe PDFThumbnail
Veure/Obrir

Citació: Rodríguez-Montañés, R. [et al.]. 8T SRAM Cell with Open Defects under Voltage and Timing Variations. A: Conference on Design of Circuits and Integrated Systems. "DCIS 2011". Albufeira: 2011, p. 155-160.
Títol: 8T SRAM Cell with Open Defects under Voltage and Timing Variations
Autor: Rodríguez Montañés, Rosa Veure Producció científica UPC; Arumi Delgado, Daniel Veure Producció científica UPC; Figueras Pàmies, Joan Veure Producció científica UPC; Castillo Muñoz, Raul
Data: 2011
Tipus de document: Conference report
URI: http://hdl.handle.net/2117/14597
Apareix a les col·leccions:Altres. Enviament des de DRAC
QINE - Disseny de Baix Consum, Test, Verificació i Tolerància a Fallades. Ponències/Comunicacions de congressos
Departament d'Enginyeria Electrònica. Ponències/Comunicacions de congressos
Comparteix:


Stats Mostra les estadístiques d'aquest ítem

SFX Query

Aquest ítem (excepte textos i imatges no creats per l'autor) està subjecte a una llicència de Creative Commons Llicència Creative Commons
Creative Commons

 

Valid XHTML 1.0! Programari DSpace Copyright © 2002-2004 MIT and Hewlett-Packard Comentaris
Universitat Politècnica de Catalunya. Servei de Biblioteques, Publicacions i Arxius