DSpace DSpace UPC
 Català   Castellano   English  

E-prints UPC >
Altres >
Enviament des de DRAC >

Empreu aquest identificador per citar o enllaçar aquest ítem: http://hdl.handle.net/2117/14515

Ítem no disponible en accés obert per política de l'editorial

Arxiu Descripció MidaFormat
P2.pdfPONÈNCIA971,25 kBAdobe PDF Accés restringit

Citació: Senturk, O. [et al.]. Electro-thermal modeling for junction temperature cycling-based lifetime prediction of a press-pack IGBT 3L-NPC-VSC applied to large wind turbines. A: IEEE Energy Conversion Congress and Exposition. "Proceedings of the Third IEEE Energy Conversion Congress & Exposition". Phoenix, Arizona: IEEE, 2011, p. 568-575.
Títol: Electro-thermal modeling for junction temperature cycling-based lifetime prediction of a press-pack IGBT 3L-NPC-VSC applied to large wind turbines
Autor: Senturk, Osman S.; Munk-Nielsen, Stig; Teodorescu, Remus; Helle, L.; Rodríguez Cortés, Pedro Veure Producció científica UPC
Editorial: IEEE
Data: 2011
Tipus de document: Conference report
Resum: Reliability is a critical criterion for multi-MW wind turbines, which are being employed with increasing numbers in wind power plants, since they operate under harsh conditions and have high maintenance cost due to their remote locations. In this study, the wind turbine grid-side converter reliability is investigated regarding IGBT lifetime based on junction temperature cycling for the grid-side press-pack IGBT 3L-NPC-VSC, which is a state-of-the art high reliability solution. In order to acquire IGBT junction temperatures for given wind power profiles and to use them in IGBT lifetime prediction, the converter electro-thermal model including electrical, power loss, and dynamical thermal models is developed with the main focus on the thermal modeling regarding converter topology, switch technology, and physical structure. Moreover, these models are simplified for their practical implementation in computation platforms. Finally, the converter lifetimes for wind power profiles are predicted using the IGBT lifetime model available. Hence, the developed electrothermal model’s suitability for the lifetime predictions is shown.
ISBN: 978-1-4577-0541-0/11
URI: http://hdl.handle.net/2117/14515
DOI: 10.1109/ECCE.2011.6063820
Versió de l'editor: http://upc.cbuc.cat/record=b1390647~S1
Apareix a les col·leccions:Altres. Enviament des de DRAC
SEER - Sistemes Elèctrics d'Energia Renovable. Ponències/Comunicacions de congressos
Departament d'Enginyeria Elèctrica. Ponències/Comunicacions de congressos
Comparteix:


Stats Mostra les estadístiques d'aquest ítem

SFX Query

Tots els drets reservats. Aquesta obra està protegida pels drets de propietat intel·lectual i industrial corresponents. Sense perjudici de les exempcions legals existents, queda prohibida la seva reproducció, distribució, comunicació pública o transformació sense l'autorització del titular dels drets.

Per a qualsevol ús que se'n vulgui fer no previst a la llei, dirigiu-vos a: sepi.bupc@upc.edu

 

Valid XHTML 1.0! Programari DSpace Copyright © 2002-2004 MIT and Hewlett-Packard Comentaris
Universitat Politècnica de Catalunya. Servei de Biblioteques, Publicacions i Arxius