DSpace DSpace UPC
 Català   Castellano   English  

E-prints UPC >
Altres >
Enviament des de DRAC >

Empreu aquest identificador per citar o enllaçar aquest ítem: http://hdl.handle.net/2117/14355

Ítem no disponible en accés obert per política de l'editorial

Arxiu Descripció MidaFormat
DCIS2010Proceedings 210.pdfPonència965,46 kBAdobe PDF Accés restringit

Citació: Gómez, A. [et al.]. Identification of component deviations in analog circuits using digital signatures. A: Conference on Design of Circuits and Integrated Systems. "Proceedigns of XXV Conference on Design of Circuits and Integrated Systems". Lanzarote (Canàries): 2011, p. 187-192.
Títol: Identification of component deviations in analog circuits using digital signatures
Autor: Gómez Pau, Álvaro Veure Producció científica UPC; Sanahuja Moliner, Ricard Veure Producció científica UPC; Balado Suárez, Luz María Veure Producció científica UPC; Figueras Pàmies, Joan Veure Producció científica UPC
Data: 2011
Tipus de document: Conference report
Resum: Analog circuits component diagnosis is a challenging task requiring expensive resources. This paper presents a low cost method to identify deviations in multiple component values using a precharacterisation of the impact of the deviations on the digital signatures for a set of input excitations. The method predicts several circuit under diagnosis (CUD) deviations by mapping them to a scalar value that indicates the discrepancy of the defective and golden digital signatures. Input excitation consists of a small set of sinusoidal signals with different frequencies. A digital signature is generated for every excitation set and compared to the golden response. The scalar discrepancy values are used to obtain the component deviations of the CUD. In order to generate the signatures, a CMOS monitor circuit has been designed and fabricated. The method is applied to the identification of capacitance deviations in a Biquad filter. Simulated results show the possibilities of the proposal
URI: http://hdl.handle.net/2117/14355
Apareix a les col·leccions:Altres. Enviament des de DRAC
QINE - Disseny de Baix Consum, Test, Verificació i Tolerància a Fallades. Ponències/Comunicacions de congressos
Departament d'Enginyeria Electrònica. Ponències/Comunicacions de congressos
Departament de Disseny i Programació de Sistemes Electrònics. Ponències/Comunicacions de congressos
Comparteix:


Stats Mostra les estadístiques d'aquest ítem

SFX Query

Tots els drets reservats. Aquesta obra està protegida pels drets de propietat intel·lectual i industrial corresponents. Sense perjudici de les exempcions legals existents, queda prohibida la seva reproducció, distribució, comunicació pública o transformació sense l'autorització del titular dels drets.

Per a qualsevol ús que se'n vulgui fer no previst a la llei, dirigiu-vos a: sepi.bupc@upc.edu

 

Valid XHTML 1.0! Programari DSpace Copyright © 2002-2004 MIT and Hewlett-Packard Comentaris
Universitat Politècnica de Catalunya. Servei de Biblioteques, Publicacions i Arxius