DSpace DSpace UPC
 Català   Castellano   English  

E-prints UPC >
Enginyeria electrònica i telecomunicacions >
RF&MW - Grup de Recerca de Sistemes, Dispositius i Materials de RF i Microones >
Ponències/Comunicacions de congressos >

Empreu aquest identificador per citar o enllaçar aquest ítem: http://hdl.handle.net/2117/1364

Arxiu Descripció MidaFormat
colladomicrowave2006.pdf4,85 MBAdobe PDFThumbnail
Veure/Obrir

Citació: Mateu, J.; Booth, J. C.; Schima, S. A.; Collado, J. C.; Seron, D.; O'Callaghan, J. Measurements and analysis of microwave nonlinearities in ferroelectric thin film transmission lines. IEEE MTT-S International Microwave Symposium Digest, 2006. New York: Institute of Electrical and Electronic Engineers, 2006, p. 1622-1625.
Títol: Measurements and analysis of microwave nonlinearities in ferroelectric thin film transmission lines
Autor: Mateu Mateu, Jordi Veure Producció científica UPC; Booth, James C.; Schima, S. A.; Collado Gómez, Juan Carlos Veure Producció científica UPC; Seron, David Veure Producció científica UPC; O'Callaghan Castellà, Juan Manuel Veure Producció científica UPC
Editorial: Institute of Electrical and Electronics Engineers
Data: 2005
Tipus de document: Conference report
Resum: This work evaluates the microwave nonlinear properties of ferroelectric BaSrTiO thin films by measuring the frequency response of several coplanar transmission lines and interdigital capacitor structures as a function of the applied electric field from 150 Hz to 40 GHz. From these measurements, we obtain the distributed nonlinear capacitance C(Vdc) as a function of dc bias. We also measure the harmonic generation at microwave frequencies in ferroelectric transmission lines, and use an accurate circuit model to obtain C(Vrf), the nonlinear capacitance as a function of RF bias. Information about the tuning speed of the film is obtained from a comparison between the two nonlinear capacitances. Characterization of this mechanism is also required to assess the spurious signal generation in ferroelectric-based devices
ISSN: 0149-645X
URI: http://hdl.handle.net/2117/1364
Apareix a les col·leccions:RF&MW - Grup de Recerca de Sistemes, Dispositius i Materials de RF i Microones. Ponències/Comunicacions de congressos
Departament de Teoria del Senyal i Comunicacions. Ponències/Comunicacions de congressos
Comparteix:


Stats Mostra les estadístiques d'aquest ítem

SFX Query

Tots els drets reservats. Aquesta obra està protegida pels drets de propietat intel·lectual i industrial corresponents. Sense perjudici de les exempcions legals existents, queda prohibida la seva reproducció, distribució, comunicació pública o transformació sense l'autorització del titular dels drets.

Per a qualsevol ús que se'n vulgui fer no previst a la llei, dirigiu-vos a: sepi.bupc@upc.edu

 

Valid XHTML 1.0! Programari DSpace Copyright © 2002-2004 MIT and Hewlett-Packard Comentaris
Universitat Politècnica de Catalunya. Servei de Biblioteques, Publicacions i Arxius