E-prints UPC >
Altres >
Enviament des de DRAC >

Arxiu Descripció Mida Format intrinsic_resolution_limit.pdf 376.32 kB Adobe PDF Veure/Obrir

Citació:	Santos, S. [et al.]. The intrinsic resolution limit in the atomic force microscope: implications for heights of nano-scale features. "PLoS ONE Journal Information", 2011, vol. 6, núm. 8, p. 1-7.
Títol:	The intrinsic resolution limit in the atomic force microscope: implications for heights of nano-scale features
Autor:	Santos, Sergio; Barcons Xixons, Víctor ; Christenson, Hugo K.; Font Teixidó, Josep ; Thomson, Neil H.
Data:	2011
Tipus de document:	Article
ISSN:	1932-6203
URI:	http://hdl.handle.net/2117/13457
Versió de l'editor:	10.1371/journal.pone.0023821
Versió de l'editor:	http://www.plosone.org/article/info%3Adoi%2F10.1371%2Fjournal.pone.0023821
Apareix a les col·leccions:	Altres. Enviament des de DRAC Departament de Disseny i Programació de Sistemes Electrònics. Articles de revista SEPIC - Sistemes Electrònics de Potència i de Control. Articles de revista
Comparteix:

Aquest ítem (excepte textos i imatges no creats per l'autor) està subjecte a una llicència de Creative Commons Llicència Creative Commons