DSpace DSpace UPC
 Català   Castellano   English  

E-prints UPC >
Altres >
Enviament des de DRAC >

Empreu aquest identificador per citar o enllaçar aquest ítem: http://hdl.handle.net/2117/13394

Ítem no disponible en accés obert per política de l'editorial

Arxiu Descripció MidaFormat
memstech2011.pdfarticle273,62 kBAdobe PDF Accés restringit

Citació: Gómez, Á.; Balado, L.; Figueras, J. Testing IC accelerometers using Lissajous compositions. A: Perspective Technologies and Methods in MEMS Design. "2011 Proceedings of the VIIth International Conference in MEMS Design". Lviv-Polyana: 2011, p. 75-81.
Títol: Testing IC accelerometers using Lissajous compositions
Autor: Gómez Pau, Álvaro Veure Producció científica UPC; Balado Suárez, Luz María Veure Producció científica UPC; Figueras Pàmies, Joan Veure Producció científica UPC
Data: 2011
Tipus de document: Conference report
Resum: Micro Electro Mechanical devices (MEMs) have widened their range of applications in a spectacular way in the last years. Reliability of MEMs devices is one of the areas that need to be improved to achieve high volume production at allowable costs. Accelerometers have in their design some mechanical and layout symmetries that can be used to improve the test and diagnosis results. In our approach we take profit of the symmetries of dual axis accelerometers to analyze and test its behavior using a procedure that composes the two orthogonal outputs when the accelerometer is spun. The complexity in the kinematics seen by the sensitive axes of the accelerometer yields rich and complex Lissajous traces that characterize the device and allows to determine the possible mismatchings in the assumed damped mass model parameters. In order to compare and quantify parameter discrepancies, a metric has been defined to allow to determine whether the DUT is within specifications or not.
ISBN: 978-966-2191-19-6
URI: http://hdl.handle.net/2117/13394
Apareix a les col·leccions:Altres. Enviament des de DRAC
QINE - Disseny de Baix Consum, Test, Verificació i Tolerància a Fallades. Ponències/Comunicacions de congressos
Departament d'Enginyeria Electrònica. Ponències/Comunicacions de congressos
Comparteix:


Stats Mostra les estadístiques d'aquest ítem

SFX Query

Aquest ítem (excepte textos i imatges no creats per l'autor) està subjecte a una llicència de Creative Commons Llicència Creative Commons
Creative Commons

 

Valid XHTML 1.0! Programari DSpace Copyright © 2002-2004 MIT and Hewlett-Packard Comentaris
Universitat Politècnica de Catalunya. Servei de Biblioteques, Publicacions i Arxius