DSpace DSpace UPC
 Català   Castellano   English  

E-prints UPC >
Altres >
Enviament des de DRAC >

Empreu aquest identificador per citar o enllaçar aquest ítem: http://hdl.handle.net/2117/13385

Arxiu Descripció MidaFormat
FOCSI.pdfTechnical report335,41 kBAdobe PDFThumbnail
Veure/Obrir

Títol: FOCSI: A new layout regularity metric
Autor: Pons Solé, Marc Veure Producció científica UPC; Moll Echeto, Francisco de Borja Veure Producció científica UPC; Rubio Sola, Jose Antonio Veure Producció científica UPC; Abella Ferrer, Jaume Veure Producció científica UPC; Vera Rivera, Francisco Javier Veure Producció científica UPC; González Colás, Antonio María Veure Producció científica UPC
Data: 9-jun-2009
Tipus de document: External research report
Resum: Digital CMOS Integrated Circuits (ICs) suffer from serious layout features printability issues associated to the lithography manufacturing process. Regular layout designs are emerging as alternative solutions to reduce these ICs systematic subwavelength lithography failures. However, there is no metric to evaluate and compare the layout regularity of those regular designs. In this paper we propose a new layout regularity metric called Fixed Origin Corner Square Inspection (FOCSI). FOCSI allows the comparison and quantification of designs in terms of regularity and for any given degree of granularity. When FOCSI is oriented to the evaluation of regularity while applying Lithography Enhancement Techniques, it comprehends layout layers measurements considering the optical interaction length and combines them to obtain the complete layout regularity measure. Examples are provided for 32-bit adders in the 90 nm technology node for the Standard Cell approach and for Via-Configurable Transistor Array regular designs. We show how layouts can be sorted accurately even if their degree of regularity is similar.
Descripció: Technical Report
URI: http://hdl.handle.net/2117/13385
Apareix a les col·leccions:HIPICS - High Performance Integrated Circuits and Systems. Reports de recerca
Altres. Enviament des de DRAC
ARCO - Microarquitectura i Compiladors. Reports de recerca
Departament d'Arquitectura de Computadors. Reports de recerca
Departament d'Enginyeria Electrònica. Reports de recerca
Comparteix:


Stats Mostra les estadístiques d'aquest ítem

SFX Query

Aquest ítem (excepte textos i imatges no creats per l'autor) està subjecte a una llicència de Creative Commons Llicència Creative Commons
Creative Commons

 

Valid XHTML 1.0! Programari DSpace Copyright © 2002-2004 MIT and Hewlett-Packard Comentaris
Universitat Politècnica de Catalunya. Servei de Biblioteques, Publicacions i Arxius