|
E-prints UPC >
Enginyeria electrònica i telecomunicacions >
GRUP ISI - Grup d´Instrumentació, sensors i interfícies >
Ponències/Comunicacions de congressos >
Empreu aquest identificador per citar o enllaçar aquest ítem:
http://hdl.handle.net/2117/1303
|
| Citació: | Torrents i Dolz, J. M.; Pallás Areny, R. Uncertainty analysis in two-terminal impedance measurements with residual correction. A: Instrumentation and Measurement Technology Conference. Proceedings of the 18th IEEE Instrumentation and Measurement Technology Conference, 2001. IMTC 2001. Piscataway, 2001, Vol. 3, 1450-1453 |
| Títol: | Uncertainty analysis in two-terminal impedance measurements with residual correction |
| Autor: | Torrents Dolz, Josep M. ; Pallàs Areny, Ramon  |
| Editorial: | Institute of Electrical and Electronics Engineers |
| Data: | 2000 |
| Tipus de document: | Conference report |
| Resum: | Residual impedance correction in impedance analyzers when using an asymmetrical test fixture needs three reference measurements, usually open circuit, short circuit, and load (meaning an impedance close to the impedance under test). This paper provides an uncertainty estimate for impedance measurements that apply a simple open/short correction in spite of using an asymmetrical test fixture. Experimental results show that the minimal uncertainty is obtained for impedance values close to the geometric mean of the short-circuit and open-circuit impedances, and that the theoretical prediction is indeed an upper limit for the actual uncertainty |
| ISBN: | 0-7803-6646-8 |
| URI: | http://hdl.handle.net/2117/1303 |
| Apareix a les col·leccions: | Departament d'Enginyeria Electrònica. Ponències/Comunicacions de congressos GRUP ISI - Grup d´Instrumentació, sensors i interfícies. Ponències/Comunicacions de congressos IEB - Instrumentació Electrònica i Biomèdica. Articles de revista
|
| Comparteix: |
|
Queda prohibida la reproducció, transformació, distribució i comunicació pública d'aquesta obra. Es permet, en tot cas, la reproducció per a ús privat sempre i quan la còpia que se'n faci no sigui objecte d'utilització col·lectiva ni lucrativa (art. 31.2 del Reial Decret Legislatiu 1/1996, de 12 d'abril, pel qual s'aprova el Text Refós de la Llei de Propietat Intel·lectual, http://bibliotecnica.upc.es/sepi/legislacio.asp).
Per a qualsevol ús que es vulgui fer diferent al permès, dirigiu-vos a: sepi@upc.edu
|