Uncertainty analysis in two-terminal impedance measurements with residual correction
Visualitza/Obre
Estadístiques de LA Referencia / Recolecta
Inclou dades d'ús des de 2022
Cita com:
hdl:2117/1303
Tipus de documentText en actes de congrés
Data publicació2001-05
EditorInstitute of Electrical and Electronics Engineers
Condicions d'accésAccés obert
Tots els drets reservats. Aquesta obra està protegida pels drets de propietat intel·lectual i
industrial corresponents. Sense perjudici de les exempcions legals existents, queda prohibida la seva
reproducció, distribució, comunicació pública o transformació sense l'autorització del titular dels drets
Abstract
Residual impedance correction in impedance analyzers when using an asymmetrical test fixture needs three reference measurements, usually open circuit, short circuit, and load (meaning an impedance close to the impedance under test). This paper provides an uncertainty estimate for impedance measurements that apply a simple open/short correction in spite of using an asymmetrical test fixture. Experimental results show that the minimal uncertainty is obtained for impedance values close to the geometric mean of the short-circuit and open-circuit impedances, and that the theoretical prediction is indeed an upper limit for the actual uncertainty
CitacióTorrents i Dolz, J. M.; Pallàs-Areny, R. Uncertainty analysis in two-terminal impedance measurements with residual correction. A: Instrumentation and Measurement Technology Conference. Proceedings of the 18th IEEE Instrumentation and Measurement Technology Conference, 2001. IMTC 2001. Piscataway, 2001, Vol. 3, 1450-1453
ISBN0-7803-6646-8
Fitxers | Descripció | Mida | Format | Visualitza |
---|---|---|---|---|
RPallas_congres_2001_2C.pdf | 82,54Kb | Visualitza/Obre |