DSpace DSpace UPC
 Català   Castellano   English  

E-prints UPC >
Enginyeria electrònica i telecomunicacions >
GRUP ISI - Grup d´Instrumentació, sensors i interfícies >
Ponències/Comunicacions de congressos >

Empreu aquest identificador per citar o enllaçar aquest ítem: http://hdl.handle.net/2117/1303

Arxiu Descripció MidaFormat
RPallas_congres_2001_2C.pdf82,55 kBAdobe PDFThumbnail
Veure/Obrir

Citació: Torrents i Dolz, J. M.; Pallás Areny, R. Uncertainty analysis in two-terminal impedance measurements with residual correction. A: Instrumentation and Measurement Technology Conference. Proceedings of the 18th IEEE Instrumentation and Measurement Technology Conference, 2001. IMTC 2001. Piscataway, 2001, Vol. 3, 1450-1453
Títol: Uncertainty analysis in two-terminal impedance measurements with residual correction
Autor: Torrents Dolz, Josep M. Veure Producció científica UPC; Pallàs Areny, Ramon Veure Producció científica UPC
Editorial: Institute of Electrical and Electronics Engineers
Data: 2000
Tipus de document: Conference report
Resum: Residual impedance correction in impedance analyzers when using an asymmetrical test fixture needs three reference measurements, usually open circuit, short circuit, and load (meaning an impedance close to the impedance under test). This paper provides an uncertainty estimate for impedance measurements that apply a simple open/short correction in spite of using an asymmetrical test fixture. Experimental results show that the minimal uncertainty is obtained for impedance values close to the geometric mean of the short-circuit and open-circuit impedances, and that the theoretical prediction is indeed an upper limit for the actual uncertainty
ISBN: 0-7803-6646-8
URI: http://hdl.handle.net/2117/1303
Apareix a les col·leccions:GRUP ISI - Grup d´Instrumentació, sensors i interfícies. Ponències/Comunicacions de congressos
IEB - Instrumentació Electrònica i Biomèdica. Articles de revista
Departament d'Enginyeria Electrònica. Ponències/Comunicacions de congressos
Comparteix:


Stats Mostra les estadístiques d'aquest ítem

SFX Query

Tots els drets reservats. Aquesta obra està protegida pels drets de propietat intel·lectual i industrial corresponents. Sense perjudici de les exempcions legals existents, queda prohibida la seva reproducció, distribució, comunicació pública o transformació sense l'autorització del titular dels drets.

Per a qualsevol ús que se'n vulgui fer no previst a la llei, dirigiu-vos a: sepi.bupc@upc.edu

 

Valid XHTML 1.0! Programari DSpace Copyright © 2002-2004 MIT and Hewlett-Packard Comentaris
Universitat Politècnica de Catalunya. Servei de Biblioteques, Publicacions i Arxius