DSpace DSpace UPC
 Català   Castellano   English  

E-prints UPC >
Altres >
Enviament des de DRAC >

Empreu aquest identificador per citar o enllaçar aquest ítem: http://hdl.handle.net/2117/12982

Ítem no disponible en accés obert per política de l'editorial

Arxiu Descripció MidaFormat
05744250.pdfpaper1,19 MBAdobe PDF Accés restringit

Citació: Boronat, A.; Silvestre, S.; Castañer, L. Optical measurements on GaAs(Ti) thin films sputtered on GaAs. A: Spanish Conference on Electron Devices. "8th Spanish Conference on Electron Devices". Palma de Mallorca: 2011, p. 1-3.
Títol: Optical measurements on GaAs(Ti) thin films sputtered on GaAs
Autor: Boronat Moreiro, Alfredo; Silvestre Bergés, Santiago Veure Producció científica UPC; Castañer Muñoz, Luis María Veure Producció científica UPC
Data: 2011
Tipus de document: Conference report
Resum: Some sputtering processes of GaAs(Ti) onto c-GaAs have been carried out in order to obtain thin films as candidates to be intermediate band photovoltaic materials. This work presents the results obtained in the study of the absorptance, from transmittance and reflectance responses, in samples obtained at different conditions of temperature and power during the sputtering deposition.
ISBN: 978-142447863-7
URI: http://hdl.handle.net/2117/12982
DOI: 10.1109/SCED.2011.5744250
Apareix a les col·leccions:Altres. Enviament des de DRAC
MNT - Grup de Recerca en Micro i Nanotecnologies. Ponències/Comunicacions de congressos
Departament d'Enginyeria Electrònica. Ponències/Comunicacions de congressos
Comparteix:


Stats Mostra les estadístiques d'aquest ítem

SFX Query

Aquest ítem (excepte textos i imatges no creats per l'autor) està subjecte a una llicència de Creative Commons Llicència Creative Commons
Creative Commons

 

Valid XHTML 1.0! Programari DSpace Copyright © 2002-2004 MIT and Hewlett-Packard Comentaris
Universitat Politècnica de Catalunya. Servei de Biblioteques, Publicacions i Arxius