|
E-prints UPC >
Enginyeria electrònica i telecomunicacions >
RF&MW - Grup de Recerca de Sistemes, Dispositius i Materials de RF i Microones >
Articles de revista >
Empreu aquest identificador per citar o enllaçar aquest ítem:
http://hdl.handle.net/2117/1248
|
| Citació: | O'Callaghan, J.M.; Beyer, J.B. Model predicts large-signal modfet performance. Microwaves & RF, 1989, vol.28, núm.11, p.113-14, 116, 118-19 |
| Títol: | Model predicts large-signal modfet performance |
| Autor: | O'Callaghan Castellà, Juan Manuel 
Beyer, J. B. |
| Editorial: | PENTON MEDIA, INC |
| Data: | 1989 |
| Tipus de document: | Article |
| Resum: | Modulation doped FETs (MODFETs) provide low-noise performance in many medium- and high-power microwave applications. Unfortunately, there are few large-signal models available for MODFETs, and determining the parameters of these models at high power levels is often difficult. A good large-signal model can be obtained from small-signal measurements that require relatively common microwave instrumentation. The authors explain how small-signal measurements of various bias points yield a useful nonlinear equivalent circuit. |
| ISSN: | 0745-2993 |
| URI: | http://hdl.handle.net/2117/1248 |
| Apareix a les col·leccions: | Departament de Teoria del Senyal i Comunicacions. Articles de revista
RF&MW - Grup de Recerca de Sistemes, Dispositius i Materials de RF i Microones. Articles de revista
|
Queda prohibida la reproducció, transformació, distribució i comunicació pública d'aquesta obra. Es permet, en tot cas, la reproducció per a ús privat sempre i quan la còpia que se'n faci no sigui objecte d'utilització col·lectiva ni lucrativa (art. 31.2 del Reial Decret Legislatiu 1/1996, de 12 d'abril, pel qual s'aprova el Text Refós de la Llei de Propietat Intel·lectual, http://bibliotecnica.upc.es/sepi/legislacio.asp).
Per a qualsevol ús que es vulgui fer diferent al permès, dirigiu-vos a: sepi@upc.edu
|
Català
Castellano
English
