DSpace DSpace UPC
 Català   Castellano   English  

E-prints UPC >
Enginyeria electrònica i telecomunicacions >
RF&MW - Grup de Recerca de Sistemes, Dispositius i Materials de RF i Microones >
Articles de revista >

Empreu aquest identificador per citar o enllaçar aquest ítem: http://hdl.handle.net/2117/1248

Arxiu Descripció MidaFormat
Model predicts.pdf436,45 kBAdobe PDFThumbnail
Veure/Obrir

Citació: O'Callaghan, J.M.; Beyer, J.B. Model predicts large-signal modfet performance. Microwaves & RF, 1989, vol.28, núm.11, p.113-14, 116, 118-19
Títol: Model predicts large-signal modfet performance
Autor: O'Callaghan Castellà, Juan Manuel Veure Producció científica UPC; Beyer, J. B.
Editorial: PENTON MEDIA, INC
Data: 1989
Tipus de document: Article
Resum: Modulation doped FETs (MODFETs) provide low-noise performance in many medium- and high-power microwave applications. Unfortunately, there are few large-signal models available for MODFETs, and determining the parameters of these models at high power levels is often difficult. A good large-signal model can be obtained from small-signal measurements that require relatively common microwave instrumentation. The authors explain how small-signal measurements of various bias points yield a useful nonlinear equivalent circuit.
ISSN: 0745-2993
URI: http://hdl.handle.net/2117/1248
Apareix a les col·leccions:RF&MW - Grup de Recerca de Sistemes, Dispositius i Materials de RF i Microones. Articles de revista
Departament de Teoria del Senyal i Comunicacions. Articles de revista
Comparteix:


Stats Mostra les estadístiques d'aquest ítem

SFX Query

Tots els drets reservats. Aquesta obra està protegida pels drets de propietat intel·lectual i industrial corresponents. Sense perjudici de les exempcions legals existents, queda prohibida la seva reproducció, distribució, comunicació pública o transformació sense l'autorització del titular dels drets.

Per a qualsevol ús que se'n vulgui fer no previst a la llei, dirigiu-vos a: sepi.bupc@upc.edu

 

Valid XHTML 1.0! Programari DSpace Copyright © 2002-2004 MIT and Hewlett-Packard Comentaris
Universitat Politècnica de Catalunya. Servei de Biblioteques, Publicacions i Arxius