DSpace DSpace UPC
 Català   Castellano   English  

E-prints UPC >
Altres >
Enviament des de DRAC >

Empreu aquest identificador per citar o enllaçar aquest ítem: http://hdl.handle.net/2117/12152

Ítem no disponible en accés obert per política de l'editorial

Arxiu Descripció MidaFormat
sdarticle.pdf582,65 kBAdobe PDF Accés restringit

Citació: Roa, J. [et al.]. Nanoindentation of multilayered epitaxial YBa2Cu 3O7-d thin films and coated conductors. "Thin solid films", 01 Febrer 2011, vol. 519, núm. 8, p. 2470-2476.
Títol: Nanoindentation of multilayered epitaxial YBa2Cu 3O7-d thin films and coated conductors
Autor: Roa Rovira, Joan Josep Veure Producció científica UPC; Jiménez Piqué, Emilio Veure Producció científica UPC; Puig Molina, Teresa; Obradors i Berenguer, Francesc Xavier Veure Producció científica UPC; Segarra, M.
Data: 1-feb-2011
Tipus de document: Article
Resum: Nanoindenter tests were carried out on YBa2Cu3O7-δ (YBCO) coatings with different buffer layers, in order to obtain the Hardness (H) tendency, Young's modulus (E), and the fracture mechanism activated during the indentation process. Different pop-ins were observed in the load–displacement curves, and correlated with their residual nanoindentation imprints visualized by Atomic Force Microscopy. A trench was made by Focused Ion Beam in order to better understand the plastic behaviour activated under the residual imprint at 650 mN of applied load. During the first steps of nanoindentation experiments an elastic regimen takes place and the Hertzian equations can be applied to obtain the E for each YBCO coating. All YBCO coatings present similar E values and H tendencies. However, the YBCO/CeO2/Yttrium Stabilized Zirconia system exhibits a better mechanical stability probably due to the absence of microcracks under the indentation. In addition, an experimental process using nanoindentation technique is obtained in order to isolate the kind of buffer layer employed (single crystal substrate or metallic substrate).
ISSN: 0040-6090
URI: http://hdl.handle.net/2117/12152
DOI: 10.1016/j.tsf.2010.12.101
Apareix a les col·leccions:Altres. Enviament des de DRAC
CIEFMA - Centre d'Integritat Estructural i Fiabilitat dels Materials. Articles de revista
Departament de Ciència dels Materials i Enginyeria Metal·lúrgica. Articles de revista
Comparteix:


Stats Mostra les estadístiques d'aquest ítem

SFX Query

Aquest ítem (excepte textos i imatges no creats per l'autor) està subjecte a una llicència de Creative Commons Llicència Creative Commons
Creative Commons

 

Valid XHTML 1.0! Programari DSpace Copyright © 2002-2004 MIT and Hewlett-Packard Comentaris
Universitat Politècnica de Catalunya. Servei de Biblioteques, Publicacions i Arxius