DSpace DSpace UPC
 Català   Castellano   English  

E-prints UPC >
Altres >
Enviament des de DRAC >

Empreu aquest identificador per citar o enllaçar aquest ítem: http://hdl.handle.net/2117/11989

Ítem no disponible en accés obert per política de l'editorial

Arxiu Descripció MidaFormat
05617198.pdf680,67 kBAdobe PDF Accés restringit

Citació: Rodríguez, R. [et al.]. Defective Behaviour of an 8T SRAM Cell with Open Defects. A: International Conference on Advances in System Testing and Validation Lifecycle. "Second International Conference on Advances in System Testing and Validation Lifecycle". Niça: 2010, p. 81-86.
Títol: Defective Behaviour of an 8T SRAM Cell with Open Defects
Autor: Rodríguez Montañés, Rosa Veure Producció científica UPC; Arumi Delgado, Daniel Veure Producció científica UPC; Manich Bou, Salvador Veure Producció científica UPC; Figueras Pàmies, Joan Veure Producció científica UPC; Di Carlo, Stefano; Prinetto, Paolo; Scionti, Alberto
Data: 2010
Tipus de document: Conference report
ISBN: 978-1-4244-7784-5
URI: http://hdl.handle.net/2117/11989
DOI: 10.1109/VALID.2010.19
Versió de l'editor: http://ieeexplore.ieee.org/stamp/stamp.jsp?tp=&arnumber=5617198
Apareix a les col·leccions:Altres. Enviament des de DRAC
QINE - Disseny de Baix Consum, Test, Verificació i Tolerància a Fallades. Ponències/Comunicacions de congressos
Departament d'Enginyeria Electrònica. Ponències/Comunicacions de congressos
Departament de Disseny i Programació de Sistemes Electrònics. Ponències/Comunicacions de congressos
Comparteix:


Stats Mostra les estadístiques d'aquest ítem

SFX Query

Aquest ítem (excepte textos i imatges no creats per l'autor) està subjecte a una llicència de Creative Commons Llicència Creative Commons
Creative Commons

 

Valid XHTML 1.0! Programari DSpace Copyright © 2002-2004 MIT and Hewlett-Packard Comentaris
Universitat Politècnica de Catalunya. Servei de Biblioteques, Publicacions i Arxius