E-prints UPC >
Altres >
Enviament des de DRAC >

Ítem no disponible en accés obert per política de l'editorial

Arxiu Descripció Mida Format 05617198.pdf 680.67 kB Adobe PDF

Citació:	Rodríguez, R. [et al.]. Defective Behaviour of an 8T SRAM Cell with Open Defects. A: International Conference on Advances in System Testing and Validation Lifecycle. "Second International Conference on Advances in System Testing and Validation Lifecycle". Niça: 2010, p. 81-86.
Títol:	Defective Behaviour of an 8T SRAM Cell with Open Defects
Autor:	Rodríguez Montañés, Rosa ; Arumi Delgado, Daniel ; Manich Bou, Salvador ; Figueras Pàmies, Joan ; Di Carlo, Stefano; Prinetto, Paolo; Scionti, Alberto
Data:	2010
Tipus de document:	Conference report
ISBN:	978-1-4244-7784-5
URI:	http://hdl.handle.net/2117/11989
Versió de l'editor:	10.1109/VALID.2010.19
Versió de l'editor:	http://ieeexplore.ieee.org/stamp/stamp.jsp?tp=&arnumber=5617198
Apareix a les col·leccions:	Altres. Enviament des de DRAC Departament de Disseny i Programació de Sistemes Electrònics. Ponències/Comunicacions de congressos Departament d'Enginyeria Electrònica. Ponències/Comunicacions de congressos QINE - Disseny de Baix Consum, Test, Verificació i Tolerància a Fallades. Ponències/Comunicacions de congressos
Comparteix:

Aquest ítem (excepte textos i imatges no creats per l'autor) està subjecte a una llicència de Creative Commons Llicència Creative Commons