DSpace DSpace UPC
 Català   Castellano   English  

E-prints UPC >
Altres >
Enviament des de DRAC >

Empreu aquest identificador per citar o enllaçar aquest ítem: http://hdl.handle.net/2117/11966

Ítem no disponible en accés obert per política de l'editorial

Arxiu Descripció MidaFormat
Vatajelu_05512778_ETS2010_Parametric.pdftext complet563,88 kBAdobe PDF Accés restringit

Citació: Vatajelu, E. [et al.]. Parametric Failure Analysis of Embedded SRAMs using Fast & Accurate Dynamic Analysis. A: IEEE European Test Symposium. "15th IEEE European Test Symposium". Praga: IEEE Press. Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2010, p. 69-74.
Títol: Parametric Failure Analysis of Embedded SRAMs using Fast & Accurate Dynamic Analysis
Autor: Vatajelu, Elena Ioana Veure Producció científica UPC; Panagopoulos, Georgios; Roy, Kaushik; Figueras Pàmies, Joan Veure Producció científica UPC
Editorial: IEEE Press. Institute of Electrical and Electronics Engineers
Data: 2010
Tipus de document: Conference report
ISBN: 978-1-4244-5833-2
Dipòsit legal: CFP10216-USB
URI: http://hdl.handle.net/2117/11966
Versió de l'editor: http://ieeexplore.ieee.org/stamp/stamp.jsp?tp=&arnumber=5512778
Apareix a les col·leccions:Altres. Enviament des de DRAC
QINE - Disseny de Baix Consum, Test, Verificació i Tolerància a Fallades. Ponències/Comunicacions de congressos
Departament d'Enginyeria Electrònica. Ponències/Comunicacions de congressos
Comparteix:


Stats Mostra les estadístiques d'aquest ítem

SFX Query

Aquest ítem (excepte textos i imatges no creats per l'autor) està subjecte a una llicència de Creative Commons Llicència Creative Commons
Creative Commons

 

Valid XHTML 1.0! Programari DSpace Copyright © 2002-2004 MIT and Hewlett-Packard Comentaris
Universitat Politècnica de Catalunya. Servei de Biblioteques, Publicacions i Arxius