E-prints UPC >
Altres >
Enviament des de DRAC >

Ítem no disponible en accés obert per política de l'editorial

Arxiu Descripció Mida Format Vatajelu_05520825.pdf 536.35 kB Adobe PDF

Citació:	Vatajelu, E.; Figueras, J. Statistical analysis of SRAM aarametric failure under supply voltage scaling. A: IEEE-TTTC International Conference on Automation, Quality and Testing, Robotics. "IEEE Automation, Quality and Testing, Robotics - AQTR 2010, Cl". Cluj Napoca: IEEE Computer Society Publications, 2010, p. 1-6.
Títol:	Statistical analysis of SRAM aarametric failure under supply voltage scaling
Autor:	Vatajelu, Elena Ioana ; Figueras Pàmies, Joan
Editorial:	IEEE Computer Society Publications
Data:	2010
Tipus de document:	Conference report
URI:	http://hdl.handle.net/2117/11965
Versió de l'editor:	DOI 10.1109/AQTR.2010.5520825
Versió de l'editor:	http://ieeexplore.ieee.org/xpls/abs_all.jsp?arnumber=5520825
Apareix a les col·leccions:	Altres. Enviament des de DRAC Departament d'Enginyeria Electrònica. Ponències/Comunicacions de congressos QINE - Disseny de Baix Consum, Test, Verificació i Tolerància a Fallades. Ponències/Comunicacions de congressos
Comparteix:

Aquest ítem (excepte textos i imatges no creats per l'autor) està subjecte a una llicència de Creative Commons Llicència Creative Commons