DSpace DSpace UPC
 Català   Castellano   English  

E-prints UPC >
Altres >
Enviament des de DRAC >

Empreu aquest identificador per citar o enllaçar aquest ítem: http://hdl.handle.net/2117/11965

Ítem no disponible en accés obert per política de l'editorial

Arxiu Descripció MidaFormat
Vatajelu_05520825.pdf536,35 kBAdobe PDF Accés restringit

Citació: Vatajelu, E.; Figueras, J. Statistical analysis of SRAM aarametric failure under supply voltage scaling. A: IEEE-TTTC International Conference on Automation, Quality and Testing, Robotics. "IEEE Automation, Quality and Testing, Robotics - AQTR 2010, Cl". Cluj Napoca: IEEE Computer Society Publications, 2010, p. 1-6.
Títol: Statistical analysis of SRAM aarametric failure under supply voltage scaling
Autor: Vatajelu, Elena Ioana Veure Producció científica UPC; Figueras Pàmies, Joan Veure Producció científica UPC
Editorial: IEEE Computer Society Publications
Data: 2010
Tipus de document: Conference report
URI: http://hdl.handle.net/2117/11965
DOI: DOI 10.1109/AQTR.2010.5520825
Versió de l'editor: http://ieeexplore.ieee.org/xpls/abs_all.jsp?arnumber=5520825
Apareix a les col·leccions:Altres. Enviament des de DRAC
QINE - Disseny de Baix Consum, Test, Verificació i Tolerància a Fallades. Ponències/Comunicacions de congressos
Departament d'Enginyeria Electrònica. Ponències/Comunicacions de congressos
Comparteix:


Stats Mostra les estadístiques d'aquest ítem

SFX Query

Aquest ítem (excepte textos i imatges no creats per l'autor) està subjecte a una llicència de Creative Commons Llicència Creative Commons
Creative Commons

 

Valid XHTML 1.0! Programari DSpace Copyright © 2002-2004 MIT and Hewlett-Packard Comentaris
Universitat Politècnica de Catalunya. Servei de Biblioteques, Publicacions i Arxius