E-prints UPC >
Altres >
Enviament des de DRAC >

Ítem no disponible en accés obert per política de l'editorial

Arxiu Descripció Mida Format Vatajelu_LPonTR10_Robustness.pdf 105.26 kB Adobe PDF

Citació:	Vatajelu, E.; Renovell, M.; Figueras, J. Robustness of SRAM to Power Supply Noise during Leakage Power Saving in DVS. A: International Workshop on the Impact of Low Power design on Test and Reliability(LPonTR). "LPonTR'10 - International Workshop on the Impact of Low Power design on Test and Reliability". Praga: IEEE Press. Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2010, p. 1-3.
Títol:	Robustness of SRAM to Power Supply Noise during Leakage Power Saving in DVS
Autor:	Vatajelu, Elena Ioana ; Renovell, Michel; Figueras Pàmies, Joan
Editorial:	IEEE Press. Institute of Electrical and Electronics Engineers
Data:	2010
Tipus de document:	Conference report
URI:	http://hdl.handle.net/2117/11964
Apareix a les col·leccions:	Altres. Enviament des de DRAC Departament d'Enginyeria Electrònica. Ponències/Comunicacions de congressos QINE - Disseny de Baix Consum, Test, Verificació i Tolerància a Fallades. Ponències/Comunicacions de congressos
Comparteix:

Aquest ítem (excepte textos i imatges no creats per l'autor) està subjecte a una llicència de Creative Commons Llicència Creative Commons