Robustness of SRAM to Power Supply Noise during Leakage Power Saving in DVS
Visualitza/Obre
Vatajelu_LPonTR10_Robustness.pdf (105,2Kb) (Accés restringit)
Sol·licita una còpia a l'autor
Què és aquest botó?
Aquest botó permet demanar una còpia d'un document restringit a l'autor. Es mostra quan:
- Disposem del correu electrònic de l'autor
- El document té una mida inferior a 20 Mb
- Es tracta d'un document d'accés restringit per decisió de l'autor o d'un document d'accés restringit per política de l'editorial
Tipus de documentText en actes de congrés
Data publicació2010
EditorIEEE Press. Institute of Electrical and Electronics Engineers
Condicions d'accésAccés restringit per política de l'editorial
Llevat que s'hi indiqui el contrari, els
continguts d'aquesta obra estan subjectes a la llicència de Creative Commons
:
Reconeixement-NoComercial-SenseObraDerivada 3.0 Espanya
CitacióVatajelu, E.; Renovell, M.; Figueras, J. Robustness of SRAM to Power Supply Noise during Leakage Power Saving in DVS. A: International Workshop on the Impact of Low Power design on Test and Reliability(LPonTR). "LPonTR'10 - International Workshop on the Impact of Low Power design on Test and Reliability". Praga: IEEE Press. Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2010, p. 1-3.
Col·leccions
- QINE - Disseny de Baix Consum, Test, Verificació i Tolerància a Fallades - Ponències/Comunicacions de congressos [60]
- QINE - Disseny de Baix Consum, Test, Verificació i Circuits Integrats de Seguretat - Ponències/Comunicacions de congressos [78]
- Departament d'Enginyeria Electrònica - Ponències/Comunicacions de congressos [1.711]
Fitxers | Descripció | Mida | Format | Visualitza |
---|---|---|---|---|
Vatajelu_LPonTR10_Robustness.pdf | 105,2Kb | Accés restringit |