DSpace DSpace UPC
 Català   Castellano   English  

E-prints UPC >
Altres >
Enviament des de DRAC >

Empreu aquest identificador per citar o enllaçar aquest ítem: http://hdl.handle.net/2117/11964

Ítem no disponible en accés obert per política de l'editorial

Arxiu Descripció MidaFormat
Vatajelu_LPonTR10_Robustness.pdf105,26 kBAdobe PDF Accés restringit

Citació: Vatajelu, E.; Renovell, M.; Figueras, J. Robustness of SRAM to Power Supply Noise during Leakage Power Saving in DVS. A: International Workshop on the Impact of Low Power design on Test and Reliability(LPonTR). "LPonTR'10 - International Workshop on the Impact of Low Power design on Test and Reliability". Praga: IEEE Press. Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2010, p. 1-3.
Títol: Robustness of SRAM to Power Supply Noise during Leakage Power Saving in DVS
Autor: Vatajelu, Elena Ioana Veure Producció científica UPC; Renovell, Michel; Figueras Pàmies, Joan Veure Producció científica UPC
Editorial: IEEE Press. Institute of Electrical and Electronics Engineers
Data: 2010
Tipus de document: Conference report
URI: http://hdl.handle.net/2117/11964
Apareix a les col·leccions:Altres. Enviament des de DRAC
QINE - Disseny de Baix Consum, Test, Verificació i Tolerància a Fallades. Ponències/Comunicacions de congressos
Departament d'Enginyeria Electrònica. Ponències/Comunicacions de congressos
Comparteix:


Stats Mostra les estadístiques d'aquest ítem

SFX Query

Aquest ítem (excepte textos i imatges no creats per l'autor) està subjecte a una llicència de Creative Commons Llicència Creative Commons
Creative Commons

 

Valid XHTML 1.0! Programari DSpace Copyright © 2002-2004 MIT and Hewlett-Packard Comentaris
Universitat Politècnica de Catalunya. Servei de Biblioteques, Publicacions i Arxius