DSpace DSpace UPC
 Català   Castellano   English  

E-prints UPC >
Altres >
Enviament des de DRAC >

Empreu aquest identificador per citar o enllaçar aquest ítem: http://hdl.handle.net/2117/11234

Arxiu Descripció MidaFormat
Turtle logic....pdf214,97 kBAdobe PDFThumbnail
Veure/Obrir

Citació: García, L. [et al.]. Turtle logic: Novel IC digital probabilistic design methodology. A: Barcelona Forum on Ph.D. Research in Communications, Electronics and Signal Processing. "2nd Barcelona Forum on Ph.D. Research in Communications, Electronics and Signal Processing". Barcelona: 2010, p. 15-16.
Títol: Turtle logic: Novel IC digital probabilistic design methodology
Autor: García Leyva, Lancelot Veure Producció científica UPC; Rubio Sola, Jose Antonio Veure Producció científica UPC; Moll Echeto, Francisco de Borja Veure Producció científica UPC; Calomarde Palomino, Antonio Veure Producció científica UPC
Data: 2010
Tipus de document: Conference report
Resum: Future electronic devices are expected to operate at lower voltage supply to save power, especially in ultimate and new technologies. The resulting reduction of logic levels approaches the thermal noise limit, and consequently signal to noise margins are reduced, exposing computations to higher soft-error rates. In other words, the future circuits will be in a scenario where all devices may fail due to soft-error produced by trend of low SNR. In order to design reliable circuits with unreliable components, novel design techniques have been introduced. The problem of designing reliable systems with unreliable components traces back to Von Neumann, who proposed the N-tuple Modular Redundancy (NMR) technique. Additional proposals have appeared in the literature addressing the problem from the point of view of noise tolerance. For instance, the approach based on Markov Random Field theory (MRF). Take in account the Hamming distance for build basic logic gates focus to high noise and low voltage scenarios. Therefore, our proposal is based on the assumption that the devices in new and future technologies will be not perfect, noisy and hence they might fail.
URI: http://hdl.handle.net/2117/11234
Apareix a les col·leccions:HIPICS - High Performance Integrated Circuits and Systems. Ponències/Comunicacions de congressos
Departament d'Enginyeria Electrònica. Ponències/Comunicacions de congressos
Altres. Enviament des de DRAC
Comparteix:


Stats Mostra les estadístiques d'aquest ítem

SFX Query

Tots els drets reservats. Aquesta obra està protegida pels drets de propietat intel·lectual i industrial corresponents. Sense perjudici de les exempcions legals existents, queda prohibida la seva reproducció, distribució, comunicació pública o transformació sense l'autorització del titular dels drets.

Per a qualsevol ús que se'n vulgui fer no previst a la llei, dirigiu-vos a: sepi.bupc@upc.edu

 

Valid XHTML 1.0! Programari DSpace Copyright © 2002-2004 MIT and Hewlett-Packard Comentaris
Universitat Politècnica de Catalunya. Servei de Biblioteques, Publicacions i Arxius