DSpace DSpace UPC
 Català   Castellano   English  

E-prints UPC >
Enginyeria electrònica i telecomunicacions >
RF&MW - Grup de Recerca de Sistemes, Dispositius i Materials de RF i Microones >
Articles de revista >

Empreu aquest identificador per citar o enllaçar aquest ítem: http://hdl.handle.net/2117/1117

Arxiu Descripció MidaFormat
reduced microwave losses000092000010006346000001.pdf43,91 kBAdobe PDFThumbnail
Veure/Obrir

Citació: Fabrega, L.; Rubi, R.; Fontcuberta, J.; Sanchez, F.; Ferrater, C.; Garcia-Cuenca, M. V.; Varela, M.; Collado, C.; Mateu, J.; Menendez, O.; O'Callaghan, J. M. Reduced microwave losses YBa[sub 2]Cu[sub 3]O[sub 7 - delta] thin films on electro-optic LiNbO[sub 3] crystals. Journal of applied physics, 2002, vol. 92, núm. 10, p. 6346-6348.
Títol: Reduced microwave losses YBa[sub 2]Cu[sub 3]O[sub 7 - delta] thin films on electro-optic LiNbO[sub 3] crystals
Autor: Fàbrega i Soler, Lluís; Rubí, R.; Fontcuberta, Josep; Sánchez, F.; Ferrater Martorell, Cesar; García-Cuenca Varona, Victoria; Varela, M.; Collado Gómez, Juan Carlos Veure Producció científica UPC; Mateu Mateu, Jordi Veure Producció científica UPC; Menéndez Nadal, Óscar; O'Callaghan Castellà, Juan Manuel Veure Producció científica UPC
Editorial: AMER INST PHYSICS
Data: 2002
Tipus de document: Article
Resum: We report on the growth of epitaxial YBa2Cu3O7 thin films on X-cut LiNbO3 single crystals. The use of double CeO2/YSZ buffer layers allows a single in-plane orientation of YBa2Cu3O7, and results in superior superconducting properties. In particular, surface resistance Rs values of 1.4 m have been measured at 8 GHz and 65 K. The attainment of such low values of Rs constitutes a key step toward the incorporation of high Tc materials as electrodes in photonic and acoustic devices.
ISSN: 0021-8979
URI: http://hdl.handle.net/2117/1117
Apareix a les col·leccions:RF&MW - Grup de Recerca de Sistemes, Dispositius i Materials de RF i Microones. Articles de revista
Departament de Teoria del Senyal i Comunicacions. Articles de revista
Comparteix:


Stats Mostra les estadístiques d'aquest ítem

SFX Query

Tots els drets reservats. Aquesta obra està protegida pels drets de propietat intel·lectual i industrial corresponents. Sense perjudici de les exempcions legals existents, queda prohibida la seva reproducció, distribució, comunicació pública o transformació sense l'autorització del titular dels drets.

Per a qualsevol ús que se'n vulgui fer no previst a la llei, dirigiu-vos a: sepi.bupc@upc.edu

 

Valid XHTML 1.0! Programari DSpace Copyright © 2002-2004 MIT and Hewlett-Packard Comentaris
Universitat Politècnica de Catalunya. Servei de Biblioteques, Publicacions i Arxius