DSpace DSpace UPC
 Català   Castellano   English  

E-prints UPC >
Altres >
Enviament des de DRAC >

Empreu aquest identificador per citar o enllaçar aquest ítem: http://hdl.handle.net/2117/11126

Arxiu Descripció MidaFormat
VARI2010.pdfMain paper212,12 kBAdobe PDFThumbnail
Veure/Obrir

Citació: Altet, J. [et al.]. On evaluating temperature as observable for CMOS technology variability. A: European workshop on CMOS Variability. "1st IEEE European Workshop on CMOS Variability". Montpellier: 2010, p. 1-6.
Títol: On evaluating temperature as observable for CMOS technology variability
Autor: Altet Sanahujes, Josep Veure Producció científica UPC; Gómez Salinas, Dídac Veure Producció científica UPC; Dufis, Cédric Yvan Veure Producció científica UPC; González Jiménez, José Luis Veure Producció científica UPC; Mateo Peña, Diego Veure Producció científica UPC; Aragonès Cervera, Xavier Veure Producció científica UPC; Moll Echeto, Francisco de Borja Veure Producció científica UPC; Rubio Sola, Jose Antonio Veure Producció científica UPC
Data: 26-mai-2010
Tipus de document: Conference report
Resum: The temperature at surface of a silicon die depends on the activity of the circuits placed on it. In this paper, it is analyzed how Process, Voltage and Temperature (PVT) variations affect simultaneously some figures of merit (FoM) of some digital and analog circuits and the power dissipated by such circuits. It is shown that in some cases, a strong correlation exists between the variation of the circuit FoM and the variation of the dissipated power. Since local temperature increase at the silicon surface close to the circuit linearly depends on dissipated power, the results show that temperature can be considered as an observable magnitude for CMOS technology variability monitoring.
URI: http://hdl.handle.net/2117/11126
Apareix a les col·leccions:Altres. Enviament des de DRAC
HIPICS - High Performance Integrated Circuits and Systems. Ponències/Comunicacions de congressos
Departament d'Enginyeria Electrònica. Ponències/Comunicacions de congressos
Comparteix:


Stats Mostra les estadístiques d'aquest ítem

SFX Query

Tots els drets reservats. Aquesta obra està protegida pels drets de propietat intel·lectual i industrial corresponents. Sense perjudici de les exempcions legals existents, queda prohibida la seva reproducció, distribució, comunicació pública o transformació sense l'autorització del titular dels drets.

Per a qualsevol ús que se'n vulgui fer no previst a la llei, dirigiu-vos a: sepi.bupc@upc.edu

 

Valid XHTML 1.0! Programari DSpace Copyright © 2002-2004 MIT and Hewlett-Packard Comentaris
Universitat Politècnica de Catalunya. Servei de Biblioteques, Publicacions i Arxius