DSpace DSpace UPC
 Català   Castellano   English  

E-prints UPC >
Enginyeria electrònica i telecomunicacions >
RF&MW - Grup de Recerca de Sistemes, Dispositius i Materials de RF i Microones >
Articles de revista >

Empreu aquest identificador per citar o enllaçar aquest ítem: http://hdl.handle.net/2117/1109

Arxiu Descripció MidaFormat
comparison between nonlinear4_7_009.pdf118,44 kBAdobe PDFThumbnail
Veure/Obrir

Citació: Collado, C.; Mateu, J.; O'Callaghan, J. Comparison between nonlinear measurements in patterned and unpatterned thin films. Superconductor science & technology, 2004, vol.17, núm. 7, p. 876-880.
Títol: Comparison between nonlinear measurements in patterned and unpatterned thin films
Autor: Collado Gómez, Juan Carlos Veure Producció científica UPC; Mateu Mateu, Jordi Veure Producció científica UPC; O'Callaghan Castellà, Juan Manuel Veure Producció científica UPC
Editorial: IOP PUBLISHING LTD
Data: 2003
Tipus de document: Article
Resum: This work compares two alternative methods of characterizing the nonlinearities in a 10 × 10 mm2 superconducting thin film. Both methods are based on measuring the intermodulation distortion in high temperature superconducting (HTS) films. The first method measures the unpatterned film by using a rutile loaded cavity operating at the TE011 mode. The second method is based on intermodulation measurements made in a resonant coplanar line which is patterned on the same film that is used in the rutile cavity. In both experiments we use closed-form expressions and numerical techniques to extract local parameters related to the nonlinearities of the superconductor. The intermodulation data in both type of measurements can be fitted with identical nonlinear parameters of the HTS.
ISSN: 0953-2048
URI: http://hdl.handle.net/2117/1109
Apareix a les col·leccions:RF&MW - Grup de Recerca de Sistemes, Dispositius i Materials de RF i Microones. Articles de revista
Departament de Teoria del Senyal i Comunicacions. Articles de revista
Comparteix:


Stats Mostra les estadístiques d'aquest ítem

SFX Query

Tots els drets reservats. Aquesta obra està protegida pels drets de propietat intel·lectual i industrial corresponents. Sense perjudici de les exempcions legals existents, queda prohibida la seva reproducció, distribució, comunicació pública o transformació sense l'autorització del titular dels drets.

Per a qualsevol ús que se'n vulgui fer no previst a la llei, dirigiu-vos a: sepi.bupc@upc.edu

 

Valid XHTML 1.0! Programari DSpace Copyright © 2002-2004 MIT and Hewlett-Packard Comentaris
Universitat Politècnica de Catalunya. Servei de Biblioteques, Publicacions i Arxius