|
E-prints UPC >
Enginyeria electrònica i telecomunicacions >
RF&MW - Grup de Recerca de Sistemes, Dispositius i Materials de RF i Microones >
Articles de revista >
Empreu aquest identificador per citar o enllaçar aquest ítem:
http://hdl.handle.net/2117/1082
|
| Citació: | Purroy, F; Pradell, L. New theoretical analysis of the LRRM calibration technique for vector network analyzers. IEEE Transactions on instrumentation and measurement, 2001, vol.50, núm.5, p.1307-1314 |
| Títol: | New Theoretical Analysis of the LRRM Calibration Technique for Vector Network Analyzers |
| Autor: | Purroy Martín, Francesc ; Pradell i Cara, Lluís  |
| Editorial: | IEEE-INST ELECTRICAL ELECTRONICS ENGINEERS INC |
| Data: | 1997 |
| Tipus de document: | Article |
| Resum: | In this paper, a new theoretical analysis of the four-standards line-reflect-reflect-match (LRRM) vector network-analyzer (VNA) calibration technique is presented. As a result, it is shown that the reference-impedance (to which the LRRM calibration is referred) cannot generally be defined whenever nonideal standards are used. Based on this consideration, a new algorithm to determine the on-wafer match standard is proposed that improves the LRRM calibration accuracy. Experimental verification of the new theory and algorithm using on-wafer calibrations up to 40 GHz is given. |
| ISSN: | 0018-9456 |
| URI: | http://hdl.handle.net/2117/1082 |
| Apareix a les col·leccions: | Departament de Teoria del Senyal i Comunicacions. Articles de revista RF&MW - Grup de Recerca de Sistemes, Dispositius i Materials de RF i Microones. Articles de revista
|
| Comparteix: |
|
Queda prohibida la reproducció, transformació, distribució i comunicació pública d'aquesta obra. Es permet, en tot cas, la reproducció per a ús privat sempre i quan la còpia que se'n faci no sigui objecte d'utilització col·lectiva ni lucrativa (art. 31.2 del Reial Decret Legislatiu 1/1996, de 12 d'abril, pel qual s'aprova el Text Refós de la Llei de Propietat Intel·lectual, http://bibliotecnica.upc.es/sepi/legislacio.asp).
Per a qualsevol ús que es vulgui fer diferent al permès, dirigiu-vos a: sepi@upc.edu
|