DSpace DSpace UPC
 Català   Castellano   English  

E-prints UPC >
Altres >
Enviament des de DRAC >

Empreu aquest identificador per citar o enllaçar aquest ítem: http://hdl.handle.net/2117/10797

Ítem no disponible en accés obert per política de l'editorial

Arxiu Descripció MidaFormat
2823_ftp.pdf316,69 kBAdobe PDF Accés restringit

Citació: Ferrer, N.; Abiad, A.; Roth, S. Electron spin resonance on single-walled carbon nanotubes obtained from different sources. "Physica status solidi B. Basic solid state physics", Desembre 2010, vol. 247, núm. 11-12, p. 2823-2826.
Títol: Electron spin resonance on single-walled carbon nanotubes obtained from different sources
Autor: Ferrer Anglada, Núria Veure Producció científica UPC; Abiad Monge, Aida Veure Producció científica UPC; Roth, Segmar Veure Producció científica UPC
Data: des-2010
Tipus de document: Article
Resum: Weused electron spin resonance (ESR) to analyze several kinds of single-walled carbon nanotubes (SWNTs) synthesized by different methods. We observed that ESR is a sensitive probe that can be used to observe major differences between samples of carbon nanotubes (CNTs), in relation to their proportion of magnetic catalysts, impurities or defects. We analyzed the ESR spectra of CNTs in the usual way, by three overlapping lines. We then, implemented a function to fit the spectra, which gave us the intensity, line width (DHPP), and resonance line position (g factor) of each component line. The asymmetric line, which is assigned to the conduction electrons, could be used as a fingerprint of CNT purity. However, this asymmetric line is not always observed, since the three ESR lines often overlap, particularly when there is a large amount of paramagnetic ions. We studied the ESR spectra for different samples and estimated their purity by comparing the resulting parameters with data obtained by Raman spectroscopy on the same samples.
ISSN: 0370-1972
URI: http://hdl.handle.net/2117/10797
DOI: 10.1002/pssb.201000231
Versió de l'editor: http://onlinelibrary.wiley.com/doi/10.1002/pssb.201000231/abstract;jsessionid=B823DCD84FA2D9D3031FC20A71A61623.d01t02
Apareix a les col·leccions:CEMAD - Caracterització elèctrica de materials i dispositius. Articles de revista
Departament de Física Aplicada. Articles de revista
Departaments de Matemàtica Aplicada. Articles de revista
Altres. Enviament des de DRAC

Stats Mostra les estadístiques d'aquest ítem

SFX Query

Aquest ítem (excepte textos i imatges no creats per l'autor) està subjecte a una llicència de Creative Commons Llicència Creative Commons
Creative Commons


Valid XHTML 1.0! Programari DSpace Copyright © 2002-2004 MIT and Hewlett-Packard Comentaris
Universitat Politècnica de Catalunya. Servei de Biblioteques, Publicacions i Arxius