|
E-prints UPC >
Altres >
Enviament des de DRAC >
Empreu aquest identificador per citar o enllaçar aquest ítem:
http://hdl.handle.net/2117/10650
|
| Citació: | Perpiñà, X. [et al.]. Hot spot detection in integrated circuits laterally accessing to the substrate. A: ICREA Workshop on Phonon Engineering,. "ICREA Workshop on Phonon Engineering,". Sant Feliu de Guíxols: 2010. |
| Títol: | Hot spot detection in integrated circuits laterally accessing to the substrate |
| Autor: | Perpiñà, Xavier; Altet Sanahujes, Josep  ; Jordà, Xavier; Vellvehi, Miquel |
| Data: | 2010 |
| Tipus de document: | Conference report |
| Resum: | Thermal management of nano estructures requires the use of temperature monitoring strategies. In this work we expose a strategy bases on sensing the heat-flux within the chip substrate with a probe-laser beam. As the beam passes through the die, it experiences a deflection directly proportional to the heat-flux found along its trajectory (Internal Interfrared-laser deflection technique, IIR-LD) . As application example, we expose how hot spots can be detected in Integrated Circuits. |
| URI: | http://hdl.handle.net/2117/10650 |
| Apareix a les col·leccions: | Altres. Enviament des de DRAC
Departament d'Enginyeria Electrònica. Ponències/Comunicacions de congressos
HIPICS - High Performance Integrated Circuits and Systems. Ponències/Comunicacions de congressos
|
| Comparteix: |
|
Queda prohibida la reproducció, transformació, distribució i comunicació pública d'aquesta obra. Es permet, en tot cas, la reproducció per a ús privat sempre i quan la còpia que se'n faci no sigui objecte d'utilització col·lectiva ni lucrativa (art. 31.2 del Reial Decret Legislatiu 1/1996, de 12 d'abril, pel qual s'aprova el Text Refós de la Llei de Propietat Intel·lectual, http://bibliotecnica.upc.es/sepi/legislacio.asp).
Per a qualsevol ús que es vulgui fer diferent al permès, dirigiu-vos a: sepi@upc.edu
|
Català
Castellano
English
