Hot spot detection in integrated circuits laterally accessing to the substrate
Visualitza/Obre
Estadístiques de LA Referencia / Recolecta
Inclou dades d'ús des de 2022
Cita com:
hdl:2117/10650
Tipus de documentText en actes de congrés
Data publicació2010
Condicions d'accésAccés obert
Tots els drets reservats. Aquesta obra està protegida pels drets de propietat intel·lectual i
industrial corresponents. Sense perjudici de les exempcions legals existents, queda prohibida la seva
reproducció, distribució, comunicació pública o transformació sense l'autorització del titular dels drets
Abstract
Thermal management of nano estructures requires the use of temperature monitoring strategies. In this work we expose a strategy bases on sensing the heat-flux within the chip substrate with a probe-laser beam. As the beam passes through the die, it experiences a deflection directly proportional to the heat-flux found along its trajectory (Internal Interfrared-laser deflection technique, IIR-LD) . As application example, we expose how hot spots can be detected in Integrated Circuits.
CitacióPerpiñà, X. [et al.]. Hot spot detection in integrated circuits laterally accessing to the substrate. A: ICREA Workshop on Phonon Engineering,. "ICREA Workshop on Phonon Engineering,". Sant Feliu de Guíxols: 2010.
Fitxers | Descripció | Mida | Format | Visualitza |
---|---|---|---|---|
Altet_ICREA_2010_abstract_ Hot Spot.pdf | abstract | 482,0Kb | Visualitza/Obre |