DSpace DSpace UPC
 Català   Castellano   English  

E-prints UPC >
Altres >
Enviament des de DRAC >

Empreu aquest identificador per citar o enllaçar aquest ítem: http://hdl.handle.net/2117/10529

Arxiu Descripció MidaFormat
Altet_therminic_2010_Hot Spot.pdftext complet496,04 kBAdobe PDFThumbnail
Veure/Obrir

Citació: Perpiñà, X. [et al.]. Hot spot detection in integrated circuits laterally accessing to their substrate using a laser beam. A: 16th International workshop on Thermal investigations of ICs and Systems. "16th THERMINIC". Barcelona: IEEE Computer Society Publications, 2010, p. 117-121.
Títol: Hot spot detection in integrated circuits laterally accessing to their substrate using a laser beam
Autor: Perpiñà, Xavier; Altet Sanahujes, Josep Veure Producció científica UPC; Jordà, Xavier; Vellvehi, Miquel
Editorial: IEEE Computer Society Publications
Data: 2010
Tipus de document: Conference report
Resum: In this paper we present an electro-thermal coupling simulation technique for RF circuits. The proposed methodology takes advantage of well established tools for frequency translating circuits in order to significantly reduce the computational resources needed when frequencies of interest are separated by orders of magnitude.
ISBN: 978-2-35500-012-6
URI: http://hdl.handle.net/2117/10529
Apareix a les col·leccions:HIPICS - High Performance Integrated Circuits and Systems. Ponències/Comunicacions de congressos
Departament d'Enginyeria Electrònica. Ponències/Comunicacions de congressos
Altres. Enviament des de DRAC
Comparteix:


Stats Mostra les estadístiques d'aquest ítem

SFX Query

Aquest ítem (excepte textos i imatges no creats per l'autor) està subjecte a una llicència de Creative Commons Llicència Creative Commons
Creative Commons

 

Valid XHTML 1.0! Programari DSpace Copyright © 2002-2004 MIT and Hewlett-Packard Comentaris
Universitat Politècnica de Catalunya. Servei de Biblioteques, Publicacions i Arxius