|
E-prints UPC >
Altres >
Enviament des de DRAC >
Empreu aquest identificador per citar o enllaçar aquest ítem:
http://hdl.handle.net/2117/10234
|
| Citació: | Camps, A. Noise wave analysis of Dicke and noise injection radiometers: Complete S parameter analysis and effect of temperature gradients. "Radio science", 17 Setembre 2010, vol. 45, núm. RS5004, p. 1-9. |
| Títol: | Noise wave analysis of Dicke and noise injection radiometers: Complete S parameter analysis and effect of temperature gradients |
| Autor: | Camps Carmona, Adriano José  |
| Data: | 17-set-2010 |
| Tipus de document: | Article |
| Resum: | The performance analysis of microwave radiometers is often
simplified assuming that most/all circuits are perfectly matched
and that all are at the same physical temperature. However, the
increasing performances demanded to future instruments makes
necessary to assess their performance including all these effects:
actual complex S-parameters of the different subsystems (non-zero
insertion losses, finite matching, finite isolation….), physical
temperature gradients etc. in view to devise a software correction,
when it is not possible to warrant them by design. A full noisewave
analysis is presented in this paper. |
| ISSN: | 0048-6604 |
| URI: | http://hdl.handle.net/2117/10234 |
| Versió de l'editor: | 10.1029/2009RS004198 |
| Apareix a les col·leccions: | Altres. Enviament des de DRAC Departament de Teoria del Senyal i Comunicacions. Articles de revista RSLAB - Remote Sensing Research Group. Articles de revista
|
| Comparteix: |
|
Queda prohibida la reproducció, transformació, distribució i comunicació pública d'aquesta obra. Es permet, en tot cas, la reproducció per a ús privat sempre i quan la còpia que se'n faci no sigui objecte d'utilització col·lectiva ni lucrativa (art. 31.2 del Reial Decret Legislatiu 1/1996, de 12 d'abril, pel qual s'aprova el Text Refós de la Llei de Propietat Intel·lectual, http://bibliotecnica.upc.es/sepi/legislacio.asp).
Per a qualsevol ús que es vulgui fer diferent al permès, dirigiu-vos a: sepi@upc.edu
|