|
E-prints UPC >
Enginyeria electrònica i telecomunicacions >
RSLAB - Remote Sensing Research Group >
Articles de revista >
Empreu aquest identificador per citar o enllaçar aquest ítem:
http://hdl.handle.net/2117/1017
|
| Citació: | Camps, A.; Torres, F.; Corbella, I.; Duffo, N.; Vall-llossera, M.; Martín-Neira, M. The impact of antenna pattern frequency dependence in aperture synthesis microwave radiometers. IEEE Transactions on geoscience and remote sensing, 2005, vol. 43, núm. 10, p. 2218-2224. |
| Títol: | The impact of Antenna Pattern Frequency Dependence in Aperture Synthesis Microwave Radiometers |
| Autor: | Camps Carmona, Adriano José
Torres Torres, Francisco
Corbella Sanahuja, Ignasi
Duffo Ubeda, Núria
Vall-Llossera Ferran, Mercedes Magdalena
Martín Neira, Manuel |
| Editorial: | IEEE-INST ELECTRICAL ELECTRONICS ENGINEERS INC |
| Data: | 2004 |
| Tipus de document: | Article |
| Resum: | The effect of the frequency dependence of the antenna voltage patterns within the bandwidth of an aperture synthesis interferometric radiometer is studied and quantified using actual antenna voltage patterns measured at different frequencies for the first nine receivers of the Microwave Imaging Radiometer with Aperture Synthesis instrument aboard the European Space Agency's Soil Moisture and Ocean Salinity mission. A technique is proposed to mitigate this effect. |
| ISSN: | 0196-2892 |
| URI: | http://hdl.handle.net/2117/1017 |
| Apareix a les col·leccions: | Departament de Teoria del Senyal i Comunicacions. Articles de revista
RSLAB - Remote Sensing Research Group. Articles de revista
|
Queda prohibida la reproducció, transformació, distribució i comunicació pública d'aquesta obra. Es permet, en tot cas, la reproducció per a ús privat sempre i quan la còpia que se'n faci no sigui objecte d'utilització col·lectiva ni lucrativa (art. 31.2 del Reial Decret Legislatiu 1/1996, de 12 d'abril, pel qual s'aprova el Text Refós de la Llei de Propietat Intel·lectual, http://bibliotecnica.upc.es/sepi/legislacio.asp).
Per a qualsevol ús que es vulgui fer diferent al permès, dirigiu-vos a: sepi@upc.edu
|
Català
Castellano
English
