DSpace DSpace UPC
 Català   Castellano   English  

E-prints UPC >
Altres >
Enviament des de DRAC >

Empreu aquest identificador per citar o enllaçar aquest ítem: http://hdl.handle.net/2117/10168

Arxiu Descripció MidaFormat
05475513.pdf1,38 MBAdobe PDFThumbnail
Veure/Obrir

Citació: Jauregui, R. [et al.]. Factors influencing the successful validation of transient phenomenon modelling. A: Asia-Pacific International Symposium on Electromagnetic Compatibility. "The 2010 Asia-Pacific Electromagnetic Compatibility Symposium and Technical Exhibition". Beijing: IEEE Press. Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2010, p. 338-341.
Títol: Factors influencing the successful validation of transient phenomenon modelling
Autor: Jauregui Tellería, Ricardo Veure Producció científica UPC; Silva Martínez, Fernando Veure Producció científica UPC; Orlandi, Antonio; Sasse, Hugh; Duffy, Alistair
Editorial: IEEE Press. Institute of Electrical and Electronics Engineers
Data: 2010
Tipus de document: Conference report
Resum: An increased requirement for validation of computational electromagnetic simulation and modelling through the publication of IEEE Standard 1597.1 brings to light some interesting issues surrounding the validation of transients. The structure of a transient event has three particular regions of interest that can have an influence on the results, of which only two are generally well defined. These are the initial quiescent phase from t = 0 to the transient event; the transient event itself up to the point where the energy has fallen to a predefined limit, and the post-transient phase where residual energy is still present in the system. This latter region is generally ill-defined and changes the way that a validation comparison should be made, from, for example a frequency domain coupling study where the region of interest is usually well defined. This study looks at the influence of the three regions on the validation results and suggests how the Feature Selective Validation (FSV) method can be applied in transient studies.
URI: http://hdl.handle.net/2117/10168
DOI: 10.1109/APEMC.2010.5475513
Apareix a les col·leccions:IEB - Instrumentació Electrònica i Biomèdica. Ponències/Comunicacions de congressos
Departament d'Enginyeria Electrònica. Ponències/Comunicacions de congressos
Altres. Enviament des de DRAC
Comparteix:


Stats Mostra les estadístiques d'aquest ítem

SFX Query

Tots els drets reservats. Aquesta obra està protegida pels drets de propietat intel·lectual i industrial corresponents. Sense perjudici de les exempcions legals existents, queda prohibida la seva reproducció, distribució, comunicació pública o transformació sense l'autorització del titular dels drets.

Per a qualsevol ús que se'n vulgui fer no previst a la llei, dirigiu-vos a: sepi.bupc@upc.edu

 

Valid XHTML 1.0! Programari DSpace Copyright © 2002-2004 MIT and Hewlett-Packard Comentaris
Universitat Politècnica de Catalunya. Servei de Biblioteques, Publicacions i Arxius