Exploració per tema "Integrated circuits--Testing"
Ara es mostren els items 1-3 de 3
-
Built-In Sensor for Signal Integrity Faults in Digital Interconnect Signals
(2010-02)
Article
Accés obertTesting of signal integrity (SI) in current high-speed ICs, requires automatic test equipment test resources at the multigigahertz range, normally not available. Furthermore, for most internal nets of state-of-the-art ... -
Estudi de la viabilitat sobre reparació en l’electrònica: elaboració de l’IC tester
(Universitat Politècnica de Catalunya, 2020-02-06)
Treball Final de Grau
Accés obertL’objectiu del treball exposat a continuació és el de construir un testejador de circuits integrats anomenat IC-Tester, una eina molt útil per a la reparació de circuits electrònics. La gran majoria d’aparells electrònics ... -
Post-Bond test of through-silicon vias with open defects
(2014)
Text en actes de congrés
Accés restringit per política de l'editorialThrough Silicon Vias (TSVs) are critical elements in three dimensional integrated circuits (3-D ICs) and are susceptible to undergo defects at different stages: during their own fabrication, the bonding stage or during ...