Exploració per tema "Integrated circuits -- Testing"
Ara es mostren els items 1-2 de 2
-
Differential scan-path: A novel solution for secure design-for-testability
(2013)
Text en actes de congrés
Accés restringit per política de l'editorialIn this paper, we present a new scan-path structure for improving the security of systems including scan paths, which normally introduce a security critical information leak channel into a design. Our structure, named ... -
Tecnologia d'integració d'equips de test automàtic per a l'optimització del test en producció de xips a baix cost
(Universitat Politècnica de Catalunya, 2009-12)
Projecte/Treball Final de Carrera
Accés obertEl present projecte de final de carrera es basa en el disseny i implementació d’un equip de test que pot arribar a testejar en paral·lel fins a quatre xips de baixes prestacions. Cadascun d’aquests xips és analitzat per ...